中文：射線形貌術(shù)趟紊；英文：X-ray topography

中文：射線形貌術(shù)氮双；英文：X-ray topography的原理；中文：射線形貌術(shù)霎匈；英文：X-ray topography的定義眶蕉；中文：射線形貌術(shù)；英文：X-ray topography是什么唧躲。
利用X射線在晶體完整區(qū)和缺陷區(qū)的衍射光束強度的變化及其規(guī)律，觀測晶體及器件表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷的一種測試技術(shù)碱璃。這是一種無損檢驗弄痹，其樣品制備簡單，實驗重復性好嵌器，能決定缺陷的性質(zhì)肛真。X射線形貌學主要有5種：反射形貌術(shù)、透射形貌術(shù)（包括截面形貌術(shù)爽航、投影形貌術(shù)和限區(qū)形貌術(shù)）蚓让、雙晶形貌術(shù)（又分為透射和反射兩種）乾忱、異常（厚晶體）透射形貌術(shù)、同步輻射源X射線形貌術(shù) （分白光和單色光）历极。