中文：曝光時(shí)間单旁；英文：exposure time

0cd/m2曝光時(shí)間0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s（?戶可以設(shè)置zui?測量時(shí)間）亮度精度±3%±3%±3%±3%±3%±3%±3%±3%±3%色度計(jì)精度x,y±0.003x,y±0.003x,y±0.003x,y ±0.003x,y ±0.003x,y ±0.003///亮度重復(fù)性±0.05%±0.05%±0.05%±0.5%±0.5%±0.5%±0.02%±0.02%±0.02%?度重復(fù)性±0.0001±0.0001±0.0001±0.000 ...

，需要較長的曝光時(shí)間才能獲得足夠清晰的MOKE圖像饥伊。因此象浑，遲滯的MOKE圖像是在面外場的逐步變化中拍攝的蔫饰，而不是連續(xù)的場掃描。對(duì)于FORC掃描拍攝的每張圖像愉豺，在拍攝MOKE圖像之前篓吁，從正飽和場到反轉(zhuǎn)場進(jìn)行全序列磁場掃描，直到所需的zui終場蚪拦。采用比例-積分-導(dǎo)數(shù)（PID）控制的熱電冷卻器進(jìn)行溫度調(diào)制杖剪。熱電冷卻器直接固定在樣品級(jí)的下方，熱敏電阻連接到冷卻器上驰贷。Arduino Nano微控制器通過預(yù)先校準(zhǔn)的熱敏電阻電阻來測量溫度盛嘿，通過PID計(jì)算來控制熱電冷卻器的輸出，并在環(huán)境波動(dòng)的情況下保持所需的溫度括袒。所有測量都保持小于0.1°C的波動(dòng)次兆。通過對(duì)樣品器件電阻的測量，驗(yàn)證了熱電冷卻器通過臺(tái)階到樣品器件 ...