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高性能低噪聲X射線相機
傳統(tǒng)磁光薄膜的特性為了在薄膜上獲得分離良好的磁性區(qū)域，在x射線光刻過程中使用掩膜炼蹦，如圖1所示羡宙，然后通過離子束蝕刻去除薄膜的未保護部分。由于需要確保垂直磁化方向掐隐，因此需要進行MOKE測量以檢查薄膜的質量狗热。這種磁性表征是可能的钞馁，因為這些薄膜的磁化方向對光偏振方向有很強的依賴性，并且薄膜與背景反射率的比例很高匿刮。其他互補的表征技術僧凰，如反射高能電子衍射，通過指示外延生長熟丸，提供了對薄膜光學質量的進一步了解训措。x射線衍射研究表明材料是否具有晶體織構，因為通常需要具有高度織構且易于磁化軸垂直于薄膜的材料(圖2)光羞。圖1圖2在這一點上绩鸣，應該強調的是，傳統(tǒng)磁光薄膜的磁性是連續(xù)的纱兑，而其他磁性薄膜呀闻，如傳統(tǒng)磁性記錄磁帶中使 ...
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