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域觀察方法互墓，透射電子顯微鏡(TEM)必尼，在觀察不同形狀和大小的樣品的能力方面受到限制。在觀察樣品時(shí)篡撵，也很難對(duì)其施加外界影響判莉，如磁場(chǎng)和物理應(yīng)力。TEM的視野也比克爾顯微鏡小育谬，比克爾顯微鏡便宜券盅，并且使用的材料和物品可以用于其他目的√盘矗克爾顯微鏡是考慮到成本的通用的領(lǐng)域觀察技術(shù)之一锰镀。它可以觀察廣泛的磁性樣品娘侍，可用于各種磁性器件。雖然還有其他可用的觀察技術(shù)泳炉，但在今天的現(xiàn)代磁性材料實(shí)驗(yàn)室中憾筏，采用克爾效應(yīng)的觀察技術(shù)是一種有效的解決方案。如果您對(duì)磁學(xué)測(cè)量相關(guān)產(chǎn)品有興趣花鹅，請(qǐng)?jiān)L問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.wjjzl.com/three-level-150.html更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光 ...
像洛倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測(cè)磁疇和磁化氧腰。然而，這種方法需要昂貴的電子光學(xué)器件和真空條件刨肃，這限制了應(yīng)用范圍古拴。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應(yīng)用于納米尺度研究的基礎(chǔ)上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像真友。然而斤富，MFM不能直接測(cè)量材料的磁化強(qiáng)度，只能檢測(cè)表面附近的磁雜散場(chǎng)锻狗。此外满力，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運(yùn)動(dòng)，幾乎沒有施加外磁場(chǎng)轻纪。在MFM技術(shù)中油额，外磁場(chǎng)下的測(cè)量應(yīng)謹(jǐn)慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷刻帚。此外潦嘶，當(dāng)樣品為軟磁材料時(shí)，磁 ...
辨率亮場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡（STEM）觀察了具有清晰界面的單個(gè)層的外延生長(zhǎng)崇众。圖1c中的高分辨率TEM （HRTEM）圖像表明掂僵，獲得了具有特定厚度的幾乎完美的單晶連續(xù)薄膜堆棧。利用二次電子質(zhì)譜（SIMS）分析了膜層中元素的分布和界面處的z小混合情況顷歌，如圖1d所示锰蓬。驗(yàn)證了Co， Pt和Fe原子在SAF中的正確均勻分布眯漩，并支持了CoFeB（0.8）與Co（0.6）鐵磁耦合的垂直自旋極化（PSP）層中薄膜的高質(zhì)量和良好的垂直磁各向異性（PMA）（圖1f）芹扭。圖1首先，詳細(xì)研究了SAF結(jié)構(gòu)PSP鐵磁層中有效IEC場(chǎng)驅(qū)動(dòng)下的DW運(yùn)動(dòng)赦抖。通過施加正場(chǎng)飽和脈沖進(jìn)行DW速度測(cè)量舱卡，并記錄了小負(fù)偏置場(chǎng)下的參考圖像。然后 ...
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