解釋
中文：受激發(fā)射損耗顯微成像放刨；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging的原理；中文：受激發(fā)射損耗顯微成像尸饺；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging的定義进统；中文：受激發(fā)射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging是什么浪听。
一種基于掃描成像的遠(yuǎn)場(chǎng)超分辨顯微成像技術(shù)螟碎。通過(guò)疊加兩束強(qiáng)度分布不同的光場(chǎng)，即激發(fā)光和損耗光迹栓，在焦點(diǎn)處形成特殊光強(qiáng)分布掉分，結(jié)合特殊樣品的激發(fā)特性可以選擇性消除激發(fā)光焦點(diǎn)外圍區(qū)域激發(fā)態(tài)分子的熒光發(fā)射能力，減小艾里斑的有效尺寸克伊，實(shí)現(xiàn)超分辨成像酥郭。
