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中,有效熒光發(fā)光面積的減小是通過受激發(fā)射效應來實現(xiàn)的级遭。一個典型的STED顯微系統(tǒng)中需要兩束照明光望拖,其中一束為激發(fā)光,另外一束為損耗光挫鸽。當激發(fā)光的照射使得其衍射斑范圍內的熒光分子被激發(fā)说敏,其中的 電子躍遷到激發(fā)態(tài)后,損耗光使得部分處于激發(fā)光斑外圍的電子以受激發(fā)射的方式回到基態(tài)丢郊,其余位于激發(fā)光斑中心的被激發(fā)電子則不受損耗光的影響盔沫,繼續(xù)以自發(fā)熒光的方式回到基態(tài)。由于在受激發(fā)射過程中所發(fā)出的熒光和自發(fā)熒光的波長及傳播方向均不同枫匾,因此真正被探測器所接受到的光子均是由位于激發(fā)光斑中心部分的熒光樣品通過自發(fā)熒光方式產生的架诞。由此,有效熒光的發(fā)光面積得以減小干茉,從而提高了系統(tǒng)的分辨率谴忧。STED顯微術能實現(xiàn)超分辨的另 ...
了樣品的有效發(fā)光面積,從而突破了衍射極限的限制。熒光分子需要在激發(fā)態(tài)進行自發(fā)輻射發(fā)出熒光沾谓,因此激發(fā)態(tài)是亮態(tài)委造,STED中采用熒光分子的基態(tài)作為暗態(tài)。強制使得熒光分子處于暗態(tài)的機制采用受激輻射均驶。當激發(fā)光光斑內的熒光分子吸收了激發(fā)光處于激發(fā)態(tài)后争涌,用另一束STED光束照射樣品,使損耗光斑范圍內的分子以受激輻射的方式回到基態(tài)辣恋,從而失去發(fā)射熒光的能力亮垫。即熒光萃滅。這個過程就叫做受激發(fā)射損耗伟骨。只有損耗光強為零或較低的區(qū)域內的熒光分子能夠以自發(fā)輻射的形式回到激態(tài)發(fā)出熒光饮潦,這樣就實現(xiàn)了有效發(fā)光面積的減小。為了實現(xiàn)上述目的携狭,損耗光聚焦后的光斑需要滿足邊緣光強較大继蜡,而中心趨于零的條件,一般采用的是環(huán)形的空心光斑逛腿,如 ...
度; L-發(fā)光面上的亮度; τ-光學系統(tǒng)的透射比(透過率); f-透鏡焦距; l-透鏡與發(fā)光面的距離(稱為測量距離); fm系統(tǒng)相對孔徑數稀并,fm=f/D,其中D為孔徑直徑单默〉饩伲 當系統(tǒng)的設計能使f/l可以忽略不計時(在某誤差范圍內)(1-f/l)2近似等于公式(1)可以化為:公式(2)公式(2)為設計成像式亮度計的基本公式。色度測試原理:光源的色度用色品坐標x搁廓,y表示引颈,與光源的相對光譜功率分布有關;如果一個光源的相對功率分布函數用P(λ)來表示境蜕,(λ)蝙场、(λ)、(λ)代表CIE1931標準光譜三刺激值粱年,如下圖所示售滤,則此光源的三刺激值可用如下公式來表示:濾光片式彩色亮度計的色度測量功能的 ...
激光二極管的發(fā)光面積大約比LED小4個數量級(0.0001mm2對比1mm2),使其能夠在更小的發(fā)散角內提供類似的功率輸出台诗。激光腔的橫向寬度(發(fā)射區(qū)寬度完箩,見圖4)決定了激光是單模(寬度<10μm)還是多模(寬度>50μm)。就應用而言拉庶,單模和多模半導體激光器在輸出功率和角度發(fā)散之間代表著一種權衡嗜憔。圖4. 法布里-珀羅(FP)半導體激光器示意圖秃励。整機尺寸一般為1000μm×500μm×200μm(長×寬×高)氏仗。對于單模激光器,發(fā)射區(qū)寬度小于10 μ m,對于高度為1 μ m的多模激光器皆尔,發(fā)射區(qū)寬度小于50 μm呐舔。除了高輻射強度和小光學擴展量(見表1)之外,激光源的光輸出是相干的慷蠕,而L ...
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