掃描近場光學顯微鏡反射模式局部磁光克爾效應成像洛倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測磁疇和磁化。然而恼除，這種方法需要昂貴的電子光學器件和真空條件踪旷，這限制了應用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應用于納米尺度研究的基礎上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像令野。然而舀患，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場气破。此外构舟，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場堵幽。在MFM技術中，外磁場下的測量應謹慎處理弹澎，以免磁化 ...
用于薄膜的遠場和近場磁光學顯微鏡的多功能特高壓系統(tǒng)基于電子顯微鏡的高分辨率成像技術朴下，如帶偏振分析的二次電子顯微鏡(SEMPA)，或光子發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)或使用磁探針的技術(磁力顯微鏡(MFM)或自旋極化掃描隧道顯微鏡(STM)苦蒿，通常局限于小的外部磁場殴胧。磁光顯微鏡沒有這樣的限制。然而佩迟，由于傳統(tǒng)(遠場)光學顯微鏡的橫向分辨率受到衍射的限制团滥，大約只能達到光波長的一半，因此納米結構只能通過x射線顯微鏡或掃描近場光學顯微鏡(SNOM)在可見光范圍內成像报强。用于磁光研究的相當緊湊和振動隔離的特高壓室連接到配備薄膜制備設施的特高壓系統(tǒng)灸姊，以及用于表征薄膜結構和形態(tài)的STM和低能電子衍射(LEED)。結合 ...
多個傳感器秉溉，近場需要耗時的掃描或干涉技術力惯。然而常規(guī)全光成像導致分辨率損失，這通常是不可接受的召嘶。我們打破這種限制的策略包括將一個全新的和基礎性的采用上一代硬件和軟件解決方案父晶。基本思想是通過使用新型傳感器來利用存儲在光的相關性中的信息實現一項非常雄心勃勃的任務的測量協(xié)議：高速（10–100 fps）量子全光成像（QPI）具有較低噪聲和較佳的性能分辨率和景深的組合弄跌。所開發(fā)的成像技術旨在：在成為第①個實際可用和適當的“量子”成像技術超出了經典成像模式的固有限制甲喝。除了基礎感興趣的是，該技術的量子特性允許在3D上提取信息來自J低光子通量下的光相關性的圖像铛只，從而減少場景暴露于光照埠胖。對QPI的興趣是由潛在的相 ...
格仲，測量遠場和近場的磁鐵是可能的押袍，而且通常是必要的。在這篇文章中凯肋，我將介紹一種新的創(chuàng)新測量技術谊惭，通過雜散場測量和偶極子近似來表征遠場中的磁體。昊量光電全新推出的M-axis磁偏角磁矩測試儀就是這種測量技術的方法。對于所謂的遠場測量圈盔，源物體和測量位置之間存在很大的距離豹芯。從這個意義上講，大距離意味著與物體zui大尺寸的至少五倍的距離驱敲。在此距離內铁蹈，永磁體的雜散磁場為偶極子。有了這個假設众眨，就可以根據陣列磁阻傳感器元件的測量來表征永磁體握牧。與亥姆霍茲線圈磁通計組合類似，該方法以非常簡單娩梨、快速和精確的方式提供磁化誤差（磁化角）和磁體的開路剩磁沿腰。與亥姆霍茲線圈相比，可以構建自動在線測量系統(tǒng)狈定。通過如此快速的測量颂龙， ...
度上，交叉到近場掃描技術是必不可少的纽什。事實證明措嵌，這對磁成像來說是相當具有挑戰(zhàn)性的。如果您對磁學測量相關產品有興趣芦缰，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.wjjzl.com/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業(yè)代理商企巢，產品包括各類激光器、光電調制器让蕾、光學測量設備包斑、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工涕俗、光通訊罗丰、生物醫(yī)療、科學研究再姑、國防萌抵、量子光學、生物顯微元镀、物聯(lián)傳感绍填、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝栖疑，培訓讨永，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)遇革，系統(tǒng)集成等服務卿闹。您可以通過我們昊量光電的官方網 ...
素揭糕，例如掃描近場磁光模塊。為了使掃描激光顯微鏡同時具有靜態(tài)和動態(tài)成像能力锻霎，光學系統(tǒng)采用高斯光束光學(靜態(tài)模式)和傍軸光學(動態(tài)模式)著角。光學系統(tǒng)示意圖如圖1所示。圖1為了在x-y平面上獲得較大的空間分辨率旋恼，激光束必須同時準直并填滿zui終物鏡的孔徑吏口。輸出光束被擴展，空間濾波冰更，然后聚焦到AO調制器(AOM)产徊。AOM的上升時間與光斑大小成正比。然后光束通過一系列中繼透鏡(稍后描述)產生準直光束蜀细，該光束填充物鏡的孔徑囚痴，在樣品表面產生衍射限制斑。為了使掃描激光顯微鏡同時具有靜態(tài)和動態(tài)成像能力审葬，光學系統(tǒng)采用高斯光束光學(靜態(tài)模式)和傍軸光學(動態(tài)模式)。光學系統(tǒng)示意圖如圖1所示奕谭。然后通過使用精密x-y級移 ...
ikado和近場聲全息 (SONAH)交叉驗證模式形狀關于Gfai tech GmbHGfai tech GmbH一直在生產和銷售"德國制造"的聲音和振動測量和分析創(chuàng)新產品超過15年涣觉。作為應用計算機科學促進會（GFai）的100%子公司，它始終以行業(yè)為導向和以應用為導向血柳。Gfaitech以第1臺模塊化和靈活的聲學攝像機而聞名官册，用于聲源的定位，可視化和分析难捌。如今膝宁，該產品組合還包括實驗模態(tài)分析的創(chuàng)新以及用于監(jiān)測、分析和評估聲學測量數據的完整軟件解決方案根吁。我們的測量解決方案應用于汽車员淫、工業(yè)、空中交通击敌、火車交通和研發(fā)領域的降噪介返、錯誤檢測和聲音設計。上海昊量光電作為gfai tech ...
微鏡沃斤，和掃描近場磁光克爾顯微鏡圣蝎。因此理想情況下，可以結合時間和空間分辨率來研究單個納米結構的磁化動力學衡瓶。圖1飛秒時間分辨光學克爾顯微鏡如圖1所示徘公。泵浦和探針激光脈沖由鈦藍寶石再生放大器獲得，以5 KHz的重復率工作哮针，以避免累積熱效應关面。持續(xù)時間為150fs(泵)和180fs(探頭)坦袍。泵浦光束中心波長為790nm，探測光束中心波長為395 nm缭裆，在1.5 mm厚的硼酸鋇晶體中通過二次諧波產生键闺。兩個獨立的望遠鏡允許一個人調整每個光束的模式，以獲得對樣品的zui佳聚焦澈驼。通過光延遲線后辛燥，泵浦光束與線偏振的探測光束共線。聚焦是使用一個標準的顯微鏡物鏡與一個數值孔徑0.65的40倍物鏡缝其。嘗試使用反射物鏡來z ...
像挎塌。增強掃描近場光學成像的新進展表明，通過將光譜學與AFM相結合内边，可以將光譜成像分辨率擴展到亞10納米范圍榴都。尖端增強近場振動光譜的例子包括尖端增強拉曼散射(TERS)和紅外散射掃描近場光學顯微鏡(IR s-SNOM)技術。尖端增強測量的一個普遍挑戰(zhàn)是由遠場散射光子從尖端周圍區(qū)域產生的壓倒性背景信號漠其。與遠場散射相比嘴高，缺乏能夠可靠地增強近場拉曼散射的成像探針，這阻礙了TERS的廣泛采用和屎，盡管它很有希望拴驮。此外，聚合物共混物和BCP系統(tǒng)不適合共振拉曼增強柴信，需要很長的信號集成時間套啤。對于紅外sSNOM，基于干涉測量的檢測方法可以提供有效的背景抑随常。利用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)在1733 cm?1的吸收波 ...
要潜沦，例如天線近場表征，太赫茲信號檢測绪氛，加速器中的帶電粒子束表征唆鸡，電網監(jiān)測，和射頻消融手術枣察。電光方法是測量電場的zui佳方法之一喇闸，電場會導致電光晶體的折射率變化。然后可以用精確的測量設備檢測到這種變化询件。由于電光材料是一種介電材料燃乍，它不會干擾或散射電磁場。此外宛琅，由于光纖電纜用于傳輸信號刻蟹，任何附加的布線都不會吸收噪音，因此嘿辟，探頭可以在非常嘈雜的環(huán)境中使用舆瘪，并且測量的信號僅與探頭位置的e場有關片效。zui后，電光響應非秤⒐牛快淀衣，因此電光電場傳感器可以用來調制光信號，從而檢測太赫茲范圍內的電信號召调。大尺寸回音壁模式環(huán)形諧振器調制器和波導馬赫-曾德爾調制器已被用于檢測射頻e場膨桥。具有高品質因數的光環(huán)諧振器可以提高傳感 ...
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