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)，導致拉曼散射截面為10?26-10?31cm2秋度。如果被探測材料的可用散射體積非常小炸庞，就像二維半導體的情況(散射體積等于激光光斑面積乘以μ2范圍內的面積乘以二維材料的亞納米厚度)，這是特別關鍵的荚斯。因此埠居，測量激光功率密度保持在損傷閾值以下通常需要很長的采集時間，以獲得足夠好的信噪比鲸拥。關于第②個限制拐格，傳統(tǒng)光學測量中的SR是由光學衍射極限(使用高數值孔徑物鏡的激發(fā)波長的大約一半)決定的。因此刑赶，在現代微拉曼裝置中，當使用可見范圍內的較短激發(fā)波長時懂衩，可以實現的較小探測尺寸約為200 nm撞叨。然而一些因素金踪，如非理想光學通常導致SR接近半微米或更高。一般來說牵敷，有幾種方法可以用來增強拉曼信號胡岔。直接的方法是將激 ...
nm，因此散射截面弱了100倍枷餐。(iii)它的斯托克斯線出現在光譜儀的敏感區(qū)域之外靶瘸。(iv)它的反斯托克斯線出現在波長范圍650 - 795 nm，超出感興趣的區(qū)域毛肋。探測光學探頭光學的主要配置是傳輸怨咪、90°、后向散射和空間偏移润匙。第三種是較簡單的诗眨，因為它很容易設置較小的組件和對齊。主要考慮:(i)較大限度地提高弱拉曼輻射的收集效率;(ii)阻止強瑞利輻射進入探測單元孕讳。這些目標是通過聚焦透鏡匠楚、分束器和長通濾波器實現的。來自激光二極管的準直光通過分束器和聚焦透鏡(L1)定向到樣品厂财。分束器的作用是將激發(fā)光路與收集光路分開芋簿。我們沒有使用專門設計的分束器，而是使用了一塊正方形的顯微鏡切片(25 mm × ...
曼為分子拉曼散射截面璃饱。在SRS顯微鏡中益咬，我們測量ΔIp (SRL)或ΔIS (SRG)作為樣品位置的函數。因為ΔI∝N帜平，即信號與目標物種的濃度c成正比幽告，現在有可能生成樣品的定量化學圖。不同的化學物質可以根據不同的振動頻率被靶向裆甩，如自發(fā)拉曼文獻中記錄的ΔI∝σ拉曼冗锁。由于信號對激發(fā)強度的非線性依賴性，SRS允許與雙光子顯微鏡類似的本征光學切片嗤栓，消除了共聚焦針孔的需要冻河。這對于厚組織樣本的成像尤其有用。表1.自發(fā)拉曼散射與相干拉曼散射的比較自發(fā)拉曼散射SRS單光子過程多光子過程極慢成像(>20分鐘/幀)快速成像茉帅，可達(30 fps)無固有z分辨率光學切片可見光/紫外光束激發(fā)增強散射激發(fā)與近紅外光 ...
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