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超緊湊型UV/VIS光纖光譜儀
S-CMOS微型光纖光譜儀(UV VIS SENS)
微型光纖光譜儀(aMSM UV VIS系列)
手持式液體光譜分析儀
紫外可見光纖光譜儀
中草慧,自然界中可見光譜的顏色組成了最大的色域空間,該色域空間中包含了人眼所能見到的所有顏色匙头。為了能夠直觀的表示色域這一概念漫谷,CIE國(guó)際照明協(xié)會(huì)制定了一個(gè)用于描述色域的方法:CIE-xy色品圖。色坐標(biāo)是CIE組織(國(guó)際照明協(xié)會(huì))的顏色量化標(biāo)準(zhǔn)蹂析,即舔示,自然界當(dāng)中任何一種顏色碟婆,都可以歸結(jié)為色坐標(biāo)上的一個(gè)點(diǎn)(x,y),色度問題轉(zhuǎn)化成了數(shù)學(xué)問題惕稻。上圖是CIE的色品圖竖共,自然界中所有的顏色包含于馬蹄形的面積中的點(diǎn),圖中有用三角形圍成的區(qū)域缩宜,就是色域肘迎。三角形的三個(gè)頂點(diǎn)是顯示設(shè)備原色(RGB)色坐標(biāo),由這三基色可以配置出的顏色就包含在三角形內(nèi)的區(qū)域里面锻煌。顯然,因某種顯示設(shè)備的三基色色坐標(biāo)不同姻蚓,三角形位置就不同宋梧,色域 ...
捂龄。產(chǎn)品特點(diǎn):可見光譜測(cè)量(380nm~780nm)?亮度和色度測(cè)量二維亮度和色度校準(zhǔn)輸出二維均勻性檢測(cè)二維Mura檢測(cè)(Black,Cloud加叁,blob倦沧,line)塊狀或區(qū)域?qū)Ρ却_定區(qū)域比較像素/線缺陷檢測(cè)用戶自定義測(cè)試流程腳本合格/不合格測(cè)量數(shù)據(jù)記錄(用戶自定義)無需校準(zhǔn)儀器(無需培訓(xùn)) ...
鈦礦膜的紫外可見光譜,從圖中可以看出它匕,傳統(tǒng)的溶液混合法制備的鈣鈦礦薄膜在儲(chǔ)存40天后被分解展融,而基于單晶工程技術(shù)制備的鈣鈦礦薄膜顯示更好的環(huán)境穩(wěn)定性。這說明基于混合陽(yáng)離子單晶工程的鈣鈦礦能夠阻止水分從外部環(huán)境進(jìn)入鈣鈦礦豫柬,因此有效地提高了在空氣中存在的穩(wěn)定性告希。上圖中曲線為單晶工程和溶液混合法制備的鈣鈦礦薄膜的穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜結(jié)果,顯然烧给,基于單晶工程技術(shù)制備的鈣鈦礦薄膜的PL強(qiáng)度要高得多燕偶,這是因?yàn)殁}鈦礦薄膜內(nèi)陷阱和缺陷的減少而抑制了載流子的復(fù)合,說明基于單晶工程技術(shù)制備的鈣鈦礦具有更好的性能础嫡。與傳統(tǒng)的基于溶液混合法制備的鈣鈦礦相比指么,它具有更高的質(zhì)量,更高的結(jié)晶度和更少的缺陷榴鼎。為了進(jìn)一步探索影響鈣鈦礦 ...
圖2)伯诬。超過可見光譜范圍的高光譜相機(jī),如FX17檬贰,覆蓋了900-1700nm的近紅外波段姑廉。這些相機(jī)提供了適合于更穩(wěn)定模型的拓展光譜數(shù)據(jù)(取決于應(yīng)用需求)。如圖2所示翁涤,F(xiàn)X17相機(jī)將是把杏仁和開心果從其外殼和外來污染物中分揀出來的最佳工具(優(yōu)于RGB模型)桥言。值得注意的是萌踱,其他應(yīng)用可能需要在短波紅外(SWIR,1700-2500nm)号阿、中波紅外(MWIR并鸵,2.7-5.3um)亦或是長(zhǎng)波紅外(LWIR,8-12um)光譜區(qū)域靈敏度的高光譜相機(jī)圖2:基于RGB相機(jī)扔涧、FX10和FX17數(shù)據(jù)的照片和模型預(yù)測(cè)园担。開心果和堅(jiān)果是綠色的,殼是藍(lán)色的枯夜,木材是黃色的機(jī)器視覺系統(tǒng)通常結(jié)合了多個(gè)傳感器弯汰,它們是互補(bǔ)的。下表 ...
力工具湖雹。單一可見光譜成像數(shù)據(jù)集中捕獲的豐富信息可用于估計(jì)材料診斷反射曲線咏闪,創(chuàng)建高精度的顏色再現(xiàn),并模擬在觀察和照明條件變化時(shí)的外觀變化[1]摔吏,[2]鸽嫂。光譜成像的這些特點(diǎn)使它比傳統(tǒng)的RGB成像更全面和通用,并使其在文化遺產(chǎn)工作中越來越受歡迎征讲【菽常基于LED的光譜成像尤其令人感興趣,尤其是隨著LED變得越來越普遍诗箍,它們?cè)陟`活性癣籽、效率和成本效益方面持續(xù)改進(jìn),超過基于濾波器的方法[3]扳还、[4]才避。盡管光譜成像具有公認(rèn)的優(yōu)點(diǎn),但它仍主要被用作一次性技術(shù)研究的科學(xué)工具氨距,使用復(fù)雜的儀器進(jìn)行桑逝,需要大量的計(jì)算數(shù)據(jù)處理[5]-[7]。因此俏让,它還沒有在更常規(guī)的文化遺產(chǎn)數(shù)字化工作流程中找到一席之地楞遏。為了使光譜成像從實(shí)驗(yàn)室有 ...
子點(diǎn)的紫外-可見光譜(c)上述方法制備的MoS2量子點(diǎn)溶液分別在300nm,320nm,340nm和360nm激發(fā)光下的PL光譜上圖a 顯示了 1T 和 2H MoS2 的典型拉曼振動(dòng),這表明通過 n-BuLi 處理和激光燒蝕步驟成功實(shí)現(xiàn)了相變首昔」押龋可以看出,1T 相 MoS2 有三種拉曼振動(dòng)勒奇,分別對(duì)應(yīng)J1预鬓、J2 和 J3 模式。由于成功相變到2H相赊颠,這些具有代表性的1T MoS2 拉曼模式在 MoS2 QDs中沒有出現(xiàn)格二。因此劈彪,在 MoS2 QD 的拉曼光譜中只能觀察到 E12g 和 A1g 模式(標(biāo)記為紅色)。此外顶猜,這兩個(gè)峰移動(dòng)到 382 cm-1(紅移)和 402 cm-1(藍(lán)移)沧奴。E12g ...
微環(huán)諧振器的可見光譜氮化硅熱光相位調(diào)制器,具有器件占用空間小和低功耗长窄,可用于AR/VR眼鏡滔吠、量子信息處理電路和光遺傳學(xué)等應(yīng)用.作者:Guozhen Liang,Heqing Huang...Nanfang Yu原文鏈接: https://www.nature.com/articles/s41566-021-00891-y7 論文標(biāo)題:超快計(jì)時(shí)實(shí)現(xiàn)無需重建的正電子發(fā)射成像簡(jiǎn)介:證明了無需層析重建的正電子發(fā)射成像挠日。切倫科夫輻射探測(cè)器檢測(cè)由正電子-電子湮滅產(chǎn)生的伽馬射線疮绷,以4.8mm的精度確定正電子源的位置。作者:Sun Il Kwon ,Ryosuke Ota... Simon R. Cherry ...
需要大部分的可見光譜肆资。對(duì)于正常色散矗愧,當(dāng)飛秒激光脈沖穿過顯微鏡的玻璃·M 的重要組成部分。為了證明色散的影響郑原,我們考慮具有高斯時(shí)間分布的“前向移動(dòng)”超短脈沖,其持續(xù)時(shí)間為τ夜涕,為時(shí)間強(qiáng)度分布的半高全寬犯犁。時(shí)間分布寫為:其中,形狀因子: 對(duì)方程(3)進(jìn)行傅里葉變化女器,得到正頻譜: 方程 (5) 經(jīng)系統(tǒng)傳播酸役,通過將其乘以譜相位(頻域中的電場(chǎng)相位)的指數(shù),得到:方程(6)中相位可以由泰勒級(jí)數(shù)展開驾胆,從而解出每一項(xiàng)的貢獻(xiàn)(原文公式如此): 方程(8)中的一階項(xiàng) ?0為常數(shù)涣澡,不影響脈沖形狀,僅引入時(shí)間延遲丧诺。所有的高階項(xiàng)入桂,?1,?2..., 取決于ω并且會(huì)影響脈沖傳播和形狀驳阎。?1稱為群延遲 (GD)抗愁。?2 ...
件是透明的,可見光譜范圍內(nèi)的透射率超過 90%呵晚≈╇纾基板支架允許盡可能靠近高數(shù)值孔徑浸沒物鏡。2.VAHEAT 是否與正置顯微鏡兼容饵隙?答:是的撮珠!基板的尺寸為18×18mm2,有效尺寸接近16×18mm2的區(qū)域金矛。顯微鏡適配器的厚度為 2.5 毫米芯急。對(duì)于大型液體浸漬物鏡勺届,我們可提供相應(yīng)的解決方案!3.我可以在真空室內(nèi)使用 VAHEAT 嗎志于?答:是的涮因!VAHEAT與真空室兼容。但可能需要特定的電纜饋通裝置伺绽,但在真空室內(nèi)操作VAHEAT時(shí)不會(huì)放氣养泡。我們可提供相應(yīng)需求的方案。四奈应、光學(xué)性能1.對(duì)于 TIRF顯微鏡:在樣品中產(chǎn)生漸逝場(chǎng)的激光束的角度如何受到 VAHEAT 的影響澜掩?答:一點(diǎn)也不。VAHEAT不會(huì)改 ...
-即電磁波的可見光譜段 (參見圖1)杖挣。衍射光譜到達(dá)CCD探測(cè)器肩榕;PR-655探測(cè)器是128位的線性探測(cè)器,PR-670探測(cè)器是256位的線性探測(cè)器惩妇,PR-788探測(cè)器是512位的線性探測(cè)器株汉;每個(gè)探測(cè)器單元均代表不同的顏色。測(cè)量時(shí)歌殃,輻射光通過自適應(yīng)靈敏度算法在某個(gè)特定的時(shí)間內(nèi)被取樣測(cè)量乔妈,自動(dòng)適配感應(yīng)器自動(dòng)會(huì)根據(jù)光信號(hào)的強(qiáng)弱確定合適曝光時(shí)間。光測(cè)量后氓皱,探測(cè)器用同樣積分時(shí)間再次測(cè)量探測(cè)器的暗電流路召,然后從每個(gè)探測(cè)器單元的光測(cè)量結(jié)果中減去暗電流的光信號(hào)貢獻(xiàn)值。圖2 簡(jiǎn)化方框圖圖3 PR系列亮度計(jì)光路圖儀器出廠時(shí)已通過相應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)光譜數(shù)據(jù)波材,校正系數(shù)包括波長(zhǎng)精確度修正股淡、光譜分布修正和光度修正。波長(zhǎng)校準(zhǔn) ...
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