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利范圍暑刃,就是光束直徑的區(qū)域,這里D0稱為光腰膜眠,或稱為光束最小直徑岩臣。光束分析儀可以直接測量和調整光束達到長瑞利范圍,以保證掃描儀的良好性能宵膨。另一方面架谎,對于光存儲,光束通常被優(yōu)化為一個非常小的光斑辟躏。光存儲激光器的焦點非常關鍵谷扣,因為光斑大小和瑞利范圍成反比。對于比較小的光斑捎琐,發(fā)散角必須足夠大会涎;對于發(fā)散角較小(比如長瑞利范圍野哭、準直光束)的情況在塔,光腰值必須大。5.焊接和切割領域由于激光能在工件上發(fā)射精確的功率密度拨黔,大多數(shù)高功率焊接和切割激光器都利用了激光的這種精密性蛔溃。為了保證使用過程中精度的持續(xù)性,監(jiān)控激光的性能非常重要±橛現(xiàn)在通常所采用的處理方法是檢測瑕疵處贺待,或者監(jiān)控未聚焦光束和推斷聚焦光束的性能。但這 ...
的參量包括:光束直徑零截,傳播模式麸塞,遠場發(fā)散角,光斑方向漂移等涧衙。研究波前相位的畸變是分析激光裝置中腔鏡變形的主要依據(jù)哪工,提高波前性能是提高光束質量的重要手段。波前分析儀可以用于激光波前的檢測弧哎,同時可以得到激光的光強分布和其他的激光光束質量參數(shù)雁比,為同時檢測激光波前和光束質量提供了一種高精度,高靈敏度撤嫩,實時3D顯示偎捎,簡便可行的新方法。3、精密光學元器件檢測隨著科技的進步茴她,人們對精密光學元器件的生產技術指標要求越來越高寻拂,波前探測器能給精密的對光學元器件進行檢測,實時得到精確的監(jiān)測數(shù)據(jù)丈牢,對于精密光學元器件的生產無疑產生了一場新的技術革命祭钉。相對于傳統(tǒng)的干涉儀檢測光學元器件的波前,Phasics波前分析儀更適合 ...
類收斂角是由光束直徑與聚焦透鏡的焦距決定的赡麦,束腰在Z軸向上的位置可通過改變光纖纖芯頭與透鏡距離來解決朴皆。圖1d描述了這兩個自由度誤差。為了控制其余四個自由度泛粹,我們需要一個特殊的光纖座用來傾斜,翻轉肮疗,移動光纖頭晶姊。透鏡和光纖架必須固定其一,改變入射光束的位置和角度(如圖1b和1c)伪货。不管怎樣们衙,必須保證亞微米精度,也就是說需要高精度機械鏡架與光纖調整架碱呼。此外蒙挑,這些組件必須具有高度的穩(wěn)定性,以減小熱膨脹造成的漂移與耦合效率下降愚臀。今天忆蚀,空間光-單模光纖耦合在光學實驗室與工業(yè)領域都有廣泛應用,但長時間保持最佳的耦合效果與耦合效率仍是一個巨大的挑戰(zhàn)姑裂。2 主動光纖耦合當被動的穩(wěn)定不可持續(xù)馋袜,就需要使用主動穩(wěn)定的方 ...
下降的時間,光束直徑在AOM內被聚焦到10um以下舶斧。開關的最大重復率對于AOM來說欣鳖,這個參數(shù)和上升下降時間直接相關,然而AOM內部的平均射頻功率也是另一個限制茴厉,高重復率將引起AOM過熱而不得不使用水冷系統(tǒng)泽台。光脈沖的能量損耗能量損耗主要由AOM器件的衍射效率以及光纖和光纖耦合造成的損耗,對于大多數(shù)AOM脈沖選擇器/Pulse Picker來說矾缓,損耗將達到75%-90%怀酷。精確選擇脈沖的能力它與AOM及配套射頻驅動系統(tǒng)的消光比有關,大多數(shù)情況下而账,動態(tài)消光比作為最主要的因素胰坟,例如AOM的下降時間不夠快,下一個(或上一個)脈沖的一部分也通過選取的范圍。脈沖選擇器/Pulse Picker波長適用范圍(特 ...
為20mW笔横。光束直徑為6mm竞滓,通過光闌后僅保留中心直徑2 mm的部分,以減少高斯光束對散射的影響吹缔。固定角度探測器位于45°散射角處商佑,通過光纖連接光譜儀探測散射光強。旋轉探測器安裝在散射平面激光束的另一側厢塘,可以在散射角為15°-165°范圍內旋轉茶没。昊量光電獨家代理法國oxxius公司可見光波段激光器,品類齊全晚碾,用途多樣抓半,可智能控制。歡迎您的咨詢格嘁。 ...
面輸入波長笛求,光束直徑,透鏡焦距糕簿,有效數(shù)值孔徑探入,折射介質,放大率等各種參數(shù)懂诗;可以更容易的進行系統(tǒng)集成蜂嗽。最佳貝塞爾光束界面圖三、閃耀光柵和正弦光柵在Pattern Generation 里選擇Blazed or Sinusoid Grating可以進入生成光柵界面殃恒;a.Blazed生成閃耀光柵植旧,選中Horizontal生成豎直方向排列的閃耀光柵,不選中Horizontal生成水平方向排列的閃耀光柵芋类,選中Increasing生成灰度增加的光柵圖隆嗅,不選中Increasing生成灰度值減少的光柵圖。b.Sinusoid,生成正弦型的光柵圖侯繁,在Period框里修改周期大小胖喳,數(shù)字越大周期越長。四贮竟、菲涅爾透鏡 ...
示丽焊,其中d為光束直徑。這導致通量F的計算如公式4所示圖7 A高斯時間剖面脈沖激光器三咕别、SLM的激光損傷閾值測試光路Meadowlark光學使用如下光路測試SLM的損傷閾值技健。該測試的目的是確定SLM對各種激光光源的光強損傷閾值。光學測試配置示意圖如圖8所示圖8 光學測試配置惰拱,A=光圈雌贱,BP =光束輪廓儀,F(xiàn)M=反光鏡,HW=半波延遲器欣孤,L=透鏡馋没,D=探測器,P=偏振器最初降传,光束輪廓儀被置于“BP或D1”位置篷朵,其具有與FM1到SLM的相同路徑長度。 使用FM1的位置婆排,捕獲光束直徑和輪廓并測量声旺,為我們提供將出現(xiàn)在SLM上光束的區(qū)域信息,用于后續(xù)功率密度計算段只。 然后將閃耀光柵的相位寫入SLM以將進入的 ...
沖和連續(xù)激光光束直徑和功率/能量腮猖,覆蓋很寬的波長范圍。處理軟件可對測量結果實時地進行顯示赞枕、分析和存儲缚够。模塊方式的設計,使該系統(tǒng)成為實驗中對微透鏡陣列進行質量控制的理想工具鹦赎,測量過程高效,一次可以測量幾十甚至上百個透鏡误堡,而且測量結果直觀可見古话。圖4-1 光學平臺測試裝置示意圖圖4-2 CCD測試系統(tǒng)原理圖該測試系統(tǒng)測試微透鏡陣列焦距的測量原理如圖4-3所示。旋轉微米級調節(jié)臺锁施,直到CCD的像平面與微透鏡陣列的焦平面重合陪踩,此時看到微透鏡的聚焦圖像,記錄旋鈕的數(shù)值悉抵。再次旋轉旋鈕肩狂,至CCD的像平面與微透鏡陣列表面重合,再次記錄旋鈕的數(shù)值姥饰。兩者的差值傻谁,即微透鏡陣列的焦距。圖4-3 焦距測試原理圖我司推出的近 ...
Z’平面上的光束直徑的比值列粪。注:對于橢圓光束而言审磁,由于通常情況下光束位置穩(wěn)定性的主軸與激光束傳輸?shù)墓廨S不重合,故需使用有效光束直徑3.9 光束穩(wěn)定性參數(shù)積 beam stability parameter productSx岂座,Sy态蒂,S沿著光束傳輸方向光束位置穩(wěn)定性最小值和光束指向穩(wěn)定性的乘積。注:與光束直徑的情況類似光束穩(wěn)定性的傳輸正如3.6中注的定義费什,也遵循雙曲線傳輸定律钾恢。可用三個參數(shù)來表征光束穩(wěn)定性的傳輸特性:最小光束位置穩(wěn)定性的位置Z0,光束位置穩(wěn)定性的最小值Δ0和光束指向穩(wěn)定性a瘩蚪。一般來說,激光光束的位置穩(wěn)定性最小值所在的位置Z0與激光束的束腰位置不一致泉懦。3.10 光束啟動時的位置改變 ...
須大于或等于光束直徑 (Db) 與主光線與光軸的最大位移之和:由于我們上面計算的空間分辨率只有在物鏡的后背孔徑被完全填充時才能實現(xiàn),我們假設 Db等于后背孔徑的直徑募舟。在傍軸近似下祠斧,物鏡后背孔徑(Ao)的直徑為:θmax與物鏡的焦距和所需的FOV有關。再一次拱礁,利用傍軸近似琢锋,得到:正如預期的那樣,管透鏡的孔徑由物鏡的 FOV呢灶、焦距和 NA 決定:無限遠校正的物鏡的焦距可以通過透鏡的放大倍數(shù)和制造商規(guī)定的套筒透鏡的焦距來確定(見第6節(jié))吴超。對于我們選擇的UIS系列蔡司透鏡(Zeiss, Thornwood, New York, USA),套筒鏡頭的焦距為鸯乃,所以物鏡的焦距為 式 (21 ...
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