裝飾在光學(xué)或電子顯微鏡下成像膝蜈，允許在多疇鐵磁體或被磁場(chǎng)穿透的超導(dǎo)體中分辨非常小(100nm)的磁性特征。繼Bitter之后熔掺，各種磁場(chǎng)成像技術(shù)得到了發(fā)展饱搏。目前應(yīng)用廣泛的儀器是磁力顯微鏡。在MFM中置逻，磁性對(duì)比是通過(guò)鐵磁尖端與樣品雜散微磁場(chǎng)之間的靜磁相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)的推沸，特別是在疇邊界處。在測(cè)量過(guò)程中券坞，探頭尖端垂直于樣品表面振動(dòng)鬓催，并且由于雜散磁場(chǎng)的存在，振動(dòng)的頻率和振幅會(huì)發(fā)生梯度變化恨锚。MFM成像可以達(dá)到小于10 nm的空間分辨率宇驾，并且可以通過(guò)先jin的尖端技術(shù)來(lái)提高分辨率，例如通過(guò)聚焦離子束銑削來(lái)修飾探針尖端猴伶。MFM的優(yōu)點(diǎn)包括相對(duì)較高的空間分辨率课舍，操作簡(jiǎn)單菌瘫，樣品制備簡(jiǎn)單。缺點(diǎn)是很難直接從MFM圖像中提取 ...
利用NV自旋的磁光成像技術(shù)磁成像技術(shù)通常以其空間和時(shí)間分辨率為特征布卡，但靈敏度雨让、場(chǎng)干擾、樣品損壞忿等、視場(chǎng)栖忠、成本和易用性等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于廣泛的適用性至關(guān)重要，這推動(dòng)了人們對(duì)先jin材料和應(yīng)用中磁性理解的未來(lái)發(fā)展贸街。電子和x射線(xiàn)顯微鏡可以提供低至幾納米的高空間分辨率庵寞，但耗時(shí)，需要昂貴的復(fù)雜儀器薛匪，仔細(xì)的樣品制備和高真空環(huán)境捐川。磁力顯微鏡(MFM)通常用于表征磁性器件，但由于其侵入性磁尖逸尖，固有的速度很慢古沥，不適合成像脆弱的磁化狀態(tài)。另一方面娇跟，磁光克爾效應(yīng)顯微鏡(MOKE)是一種非侵入性光學(xué)技術(shù)岩齿，在進(jìn)一步了解自旋霍爾效應(yīng)和zui近在環(huán)境條件下形成的磁性斯基米子氣泡方面發(fā)揮了巨大作用。MOKE的主要限制是它適用于表現(xiàn)出強(qiáng) ...
法苞俘，包括掃描電子顯微鏡與極化分析盹沈，磁力顯微鏡，光電電子顯微鏡吃谣，和掃描近場(chǎng)磁光克爾顯微鏡乞封。因此理想情況下，可以結(jié)合時(shí)間和空間分辨率來(lái)研究單個(gè)納米結(jié)構(gòu)的磁化動(dòng)力學(xué)岗憋。圖1飛秒時(shí)間分辨光學(xué)克爾顯微鏡如圖1所示肃晚。泵浦和探針激光脈沖由鈦藍(lán)寶石再生放大器獲得，以5 KHz的重復(fù)率工作澜驮，以避免累積熱效應(yīng)陷揪。持續(xù)時(shí)間為150fs(泵)和180fs(探頭)惋鸥。泵浦光束中心波長(zhǎng)為790nm杂穷，探測(cè)光束中心波長(zhǎng)為395 nm，在1.5 mm厚的硼酸鋇晶體中通過(guò)二次諧波產(chǎn)生卦绣。兩個(gè)獨(dú)立的望遠(yuǎn)鏡允許一個(gè)人調(diào)整每個(gè)光束的模式耐量，以獲得對(duì)樣品的zui佳聚焦。通過(guò)光延遲線(xiàn)后滤港，泵浦光束與線(xiàn)偏振的探測(cè)光束共線(xiàn)廊蜒。聚焦是使用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的顯微鏡物鏡 ...
倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測(cè)磁疇和磁化趴拧。然而，這種方法需要昂貴的電子光學(xué)器件和真空條件山叮，這限制了應(yīng)用范圍著榴。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應(yīng)用于納米尺度研究的基礎(chǔ)上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像屁倔。然而脑又，MFM不能直接測(cè)量材料的磁化強(qiáng)度，只能檢測(cè)表面附近的磁雜散場(chǎng)锐借。此外问麸，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運(yùn)動(dòng)，幾乎沒(méi)有施加外磁場(chǎng)钞翔。在MFM技術(shù)中严卖，外磁場(chǎng)下的測(cè)量應(yīng)謹(jǐn)慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷布轿。此外哮笆，當(dāng)樣品為軟磁材料時(shí)，磁尖會(huì) ...
高壓系統(tǒng)基于電子顯微鏡的高分辨率成像技術(shù)汰扭，如帶偏振分析的二次電子顯微鏡(SEMPA)疟呐，或光子發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)或使用磁探針的技術(shù)(磁力顯微鏡(MFM)或自旋極化掃描隧道顯微鏡(STM)，通常局限于小的外部磁場(chǎng)东且。磁光顯微鏡沒(méi)有這樣的限制启具。然而，由于傳統(tǒng)(遠(yuǎn)場(chǎng))光學(xué)顯微鏡的橫向分辨率受到衍射的限制珊泳，大約只能達(dá)到光波長(zhǎng)的一半鲁冯，因此納米結(jié)構(gòu)只能通過(guò)x射線(xiàn)顯微鏡或掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)在可見(jiàn)光范圍內(nèi)成像。用于磁光研究的相當(dāng)緊湊和振動(dòng)隔離的特高壓室連接到配備薄膜制備設(shè)施的特高壓系統(tǒng)色查，以及用于表征薄膜結(jié)構(gòu)和形態(tài)的STM和低能電子衍射(LEED)薯演。結(jié)合極性和縱向MOKE, kerr顯微鏡和Sa ...
顯微鏡應(yīng)用或電子顯微鏡不同，顯微CT掃描儀不需要專(zhuān)門(mén)或破壞性的樣品制備秧了、染色或薄切片 - 單次掃描即可提供高分辨率樣品完整內(nèi)部3D結(jié)構(gòu)的圖像跨扮，而不會(huì)損壞樣品。二．內(nèi)部結(jié)構(gòu)---里面有什么我們的xiRAY11 是一款 11Mpix验毡、光纖耦合和制冷 X 射線(xiàn)相機(jī)衡创，基于Kodak 的 KAI-11002傳感器。xiRAY11還采用了我們專(zhuān)有的傳感器驅(qū)動(dòng)技術(shù)CLEANPATH晶通，使xiRAY11能夠提供具有14 x 36mm視野的水晶般清晰的24位圖像璃氢。該相機(jī)在全分辨率模式下具有 4 fps 刷新率，在 12x4 像素合并模式下具有 4 fps 刷新率狮辽，以及用戶(hù)可設(shè)置的 12μs 至 500 秒曝光時(shí)間 ...
不同的光學(xué)和電子顯微鏡技術(shù)來(lái)表征它們一也。哪些實(shí)驗(yàn)需要FYLA的超連續(xù)譜激光器?我們進(jìn)行熒光壽命測(cè)量來(lái)表征混合納米顆粒-單分子樣品的耦合巢寡，為此我們需要具有高重復(fù)率p的脈沖激光器。為了進(jìn)行這種表征椰苟，我們使用了皮秒p FYLA SCT 超連續(xù)激光器抑月，其輸出450 - 2300nm，重復(fù)頻率為40MHz舆蝴。我們將FYLA SCT與AOTF耦合以選擇我們需要的不同波長(zhǎng)爪幻，并使用不同的清理濾波器進(jìn)一步對(duì)其進(jìn)行光譜過(guò)濾，因?yàn)榫哂星逦淖V線(xiàn)對(duì)于單分子實(shí)驗(yàn)非常重要须误。然后將FYLA SCT光纖激光器直接輸入到自制的共聚焦熒光顯微鏡的激發(fā)臂中挨稿。光子納米系統(tǒng)圖像組的設(shè)置。光纖耦合的FYLA將SCT白色激光引導(dǎo)到自制光學(xué)共聚 ...
的儀器是掃描電子顯微鏡(SEM)京痢，其原理是通過(guò)高能的電子束掃描樣品表面激發(fā)出背散射電子奶甘、二次電子和X射線(xiàn)等信號(hào)，然后對(duì)接受到的信號(hào)進(jìn)行放大并顯示成像祭椰，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品形貌等的監(jiān)測(cè)臭家。掃描電子微鏡顯具有操作簡(jiǎn)單方便，得到的圖像清晰方淤，zui大程度還原真實(shí)樣品形貌等優(yōu)點(diǎn)钉赁。通過(guò)掃描電子顯微鏡觀察Cu2O薄膜，得到其表面形貌與顆粒尺寸等信息携茂，從而對(duì)Cu2O薄膜有更加直觀了解你踩。2.5.2成分分析得到的樣品薄膜通過(guò)X射線(xiàn)衍射譜儀掃描確定其成分。X射線(xiàn)是一種波長(zhǎng)約為20到0.06?的電磁波讳苦，利用原子內(nèi)層的電子被高速運(yùn)動(dòng)的電子轟擊產(chǎn)生躍遷光輻射带膜，從而產(chǎn)生氣體的電離、熒光物質(zhì)的發(fā)光以及照相乳膠感光等鸳谜。用電子束來(lái)轟擊金屬― ...
疇觀測(cè)方法膝藕。電子顯微鏡法電子顯微鏡法主要是通過(guò)分析電子束在磁性材料表面反射或透過(guò)磁性材料時(shí)受磁性材料中磁疇產(chǎn)生的局部散磁場(chǎng)的影響而產(chǎn)生的反射或散射電子束的圖像來(lái)探測(cè)磁性材料的磁疇結(jié)構(gòu)。電子顯微境法根據(jù)具體的工作原理的不同還分為多種咐扭，目前常用于磁疇觀測(cè)的主要有電子鏡式顯微鏡芭挽、洛侖茲顯微鏡和掃描式電子顯微鏡等。電子顯微鏡法具有很高的分辨率因此可對(duì)疇壁等磁疇的精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行研巧蝗肪，可探測(cè)得到較多的磁疇信息袜爪，但它對(duì)強(qiáng)磁場(chǎng)下的磁疇動(dòng)態(tài)變化的分辨率較低，且設(shè)備的成本較高操作千分復(fù)雜穗慕，因此不能被廣泛運(yùn)用到磁疇結(jié)構(gòu)的研巧中饿敲。磁力顯微鏡法磁力顯微鏡觀測(cè)磁疇主要通過(guò)磁性探針與磁疇產(chǎn)生的局部散磁場(chǎng)之間相互作用產(chǎn)生的磁力 ...
槽邊緣的掃描電子顯微鏡（SEM）截面圖（圖2(c)）。由于PL顯微照片的高分辨率逛绵，我們可以輕松測(cè)量PL-P1邊緣效應(yīng)的范圍怀各，我們觀察到全寬半高（FWHM）約為4.6μm。從SEM截面圖可以很容易地識(shí)別出术浪，P1邊緣PL效應(yīng)的范圍遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了由于底層鉬層導(dǎo)致的CIGS吸收材料的階梯瓢对。考慮到鉬側(cè)壁的載流子提取面積（厚度約400nm）的增加胰苏，很難解釋在約4.6μm范圍內(nèi)30%的光致發(fā)光猝滅硕蛹。圖1. 標(biāo)準(zhǔn)P1激光劃線(xiàn)中異常光致發(fā)光觀察。(a) P1和P2（底部）燒蝕線(xiàn)（頂部）的光學(xué)顯微照片以及從同一位置捕獲的高光譜顯微照片中提取的PL強(qiáng)度圖（底部）硕并；(b) P1和P2劃線(xiàn)（頂部）的單色（980 nm處的P ...
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