測量探測器的暗電流顿苇，然后從每個探測器單元的光測量結(jié)果中減去暗電流的光信號貢獻(xiàn)值峭咒。圖2 簡化方框圖圖3 PR系列亮度計光路圖儀器出廠時已通過相應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)光譜數(shù)據(jù)，校正系數(shù)包括波長精確度修正纪岁、光譜分布修正和光度修正凑队。波長校準(zhǔn)采用的是具有特征光譜的氦燈光源，線光源提供了已知的光譜發(fā)射譜線通過光柵分光后投射到多探測器上再通過軟件顯示幔翰；用于波長校準(zhǔn)的氦譜線包括388.6nm漩氨，447.1 nm，471.3 nm遗增，587.6 nm叫惊，667.8 nm，706.5 nm和728.13 nm做修；接下來霍狰，可用光譜校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)這些數(shù)據(jù)；這些校準(zhǔn)系數(shù)確保被測目標(biāo)光譜能量分布(SPD)和由此計算出的數(shù)據(jù)比如CIE色度 ...
效面積越小饰及，暗電流越小蚓耽，響應(yīng)速度越快；光電二極管的下降時間(響應(yīng)時間) 與其探測帶寬 關(guān)系如下：式中C和R分別為讀出電路的阻抗和光電二極管的結(jié)電容旋炒，其中：式中的和分別為真空介電常數(shù)( 固定為)和相對介電常數(shù)；A為光電二極管的有效面積签杈；d為PN結(jié)的耗盡層厚度瘫镇。其中A越小，則越小(即響應(yīng)速度越快)答姥；其次還可以通過縮短耗盡曾厚度來是響應(yīng)速度加快铣除。相關(guān)文獻(xiàn)：[1].Toru.Y.(2015) “光學(xué)計量手冊”,[M]:67-71更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器鹦付、光電調(diào)制器尚粘、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等敲长，涉及應(yīng)用涵蓋了 ...
導(dǎo)致p-n結(jié)暗電流的不均勻分布從而引起信號的失真郎嫁。綜上，想要提高PSD的線性度就需要分兩步走祈噪，首先針對PSD本身的材料和結(jié)構(gòu)泽铛，其次是通過算法來對PSD的zui終輸出進(jìn)行修正。在本文我們主要針對PSD的內(nèi)部影響因素來談一談提高線性度的方式辑鲤。與結(jié)構(gòu)相對簡單盔腔，線性度也比較好的一維PSD相比，二維PSD的結(jié)構(gòu)稍顯復(fù)雜，要保證兩個方向的線性度都很好就需要更加復(fù)雜的設(shè)計和工藝加工流程弛随。二維四邊形PSD的等效電路圖如圖2所示瓢喉。圖2該P(yáng)SD的制作工藝較為簡單，暗電流小同時制作流程也比較短舀透，適合大批量的生產(chǎn)栓票，但是該P(yáng)SD因?yàn)殡姌O設(shè)置在同一個平面，電極距離很近盐杂，電極之間影響較大逗载，導(dǎo)致容易失真的問題，線性度比較好的 ...
in的信號是暗電流的RMS信號（噪聲）链烈。它主要由檢測器的讀出噪聲決定厉斟。對于Ariel光譜儀中使用的CMOSS11639檢測器，RMS噪聲約為13至14個ADC計數(shù)强衡。這給出了~5000的動態(tài)范圍擦秽。因此，我們可以測量100%到0.02%的反射率漩勤。當(dāng)然感挥，0.02%將是檢測限（信號=噪聲）；因此我們可以在低反射率水平下精確測量約0.1%的反射率差異越败。圖1（左）顯示了其中一項(xiàng)測量結(jié)果触幼。反射光譜中干涉條紋的幅度約為0.1%，并且非常清晰：薄膜疊層模型與測量數(shù)據(jù)相符究飞，并且可以準(zhǔn)確確定厚度/n&k置谦。圖1 低光學(xué)對比度測量–基材上的涂層，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%亿傅。模型根據(jù)數(shù)據(jù) ...
短占空比和低暗電流媒峡。與TG拉曼應(yīng)用相比，SPAD探測器目前的一個缺點(diǎn)是葵擎，與ccd相比谅阿，在探測器陣列中匹配相當(dāng)數(shù)量的像素是一個挑戰(zhàn)。這可能會對光譜分辨率產(chǎn)生影響酬滤，盡管有方法可以改善這一點(diǎn)签餐，例如微透鏡陣列和亞像素采集的實(shí)現(xiàn)。目前的商用TG拉曼光譜儀提供的光譜分辨率約為5 (cm?1)波數(shù)盯串，而一些基于CCD的系統(tǒng)可以達(dá)到1 (cm?1)以下贱田。然而，大多數(shù)應(yīng)用不需要子波數(shù)分辨率嘴脾。5. TG拉曼spad探測器發(fā)展綜述Blacksberg等人和Nissinen等人在2011年首次展示了SPAD技術(shù)在TG RS中的應(yīng)用男摧。Nissinen小組使用300 ps脈沖Nd:YAG微芯片激光器的上升沿蔬墩，在532 nm ...
以接受更高的暗電流檢測器，例如未冷卻的pmt耗拓。同年拇颅，Harries等人首次將TR實(shí)驗(yàn)中的熒光背景抑制水平與在992 cm?1熒光團(tuán)摻雜的苯拉曼帶上連續(xù)激發(fā)的水平進(jìn)行了比較。當(dāng)時的激光系統(tǒng)和探測器需要大型乔询、復(fù)雜的設(shè)備樟插，需要非常精確的設(shè)備校準(zhǔn)。到1985年竿刁，Deffontaine等人正在測試皮秒(ps)時間門控的主動和被動方法黄锤，目的是結(jié)合同步條紋相機(jī)檢測和光學(xué)Kerrgate來提高信噪比;然而，他們注意到這種方法的適用性有限食拜。同年鸵熟，Watanabe等人利用快速門通PMT-MCP排列和570nm ps脈沖激光，在31 ps的超短TG窗口中證明了乙醇摻雜羅丹明6 G的熒光抑制负甸。一年后流强，1986年，Ev ...
的制造呻待。測量暗電流和光電流之間的差值打月，并將字母“T”成像為像素圖形。研究結(jié)果表明蚕捉，將二維材料的電化學(xué)剝離與噴墨打印相結(jié)合是下一代奏篙、大規(guī)模和高性能光電器件的一種很有前途的方法。拉曼和PL的主要作用迫淹，就是分析通過TFSI修飾后MoS2納米片結(jié)構(gòu)的改變秘通，以及PL信號增強(qiáng)背后的原因。華中科技大學(xué)史鐵林教授簡介：男千绪，教授，博士生導(dǎo)師梗脾，史鐵林（Shi Tielin荸型，Professor），1964年1月出生炸茧，中共黨員瑞妇，博士，教授梭冠，博士生導(dǎo)師辕狰，guo家級領(lǐng)軍人才，曾任機(jī)械學(xué)院黨委書記控漠。1985年本科蔓倍、1988年碩士畢業(yè)于西安交通大學(xué)悬钳，1991年博士畢業(yè)于華中理工大學(xué)，1993年博士后出站偶翅，進(jìn)入華中科技大學(xué)（原 ...
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