中文：面缺陷圈暗；英文：planar defect

在第二代太陽能電池材料中，二硫化銅銦（CuInS2或CIS）是最有前途的材料之一挣惰。自上世紀(jì)90年代CuInS2就被太陽能電池領(lǐng)域的科研工作者卧斟，當(dāng)時(shí)太陽能電池的效率已達(dá)到10%[1]。它具有較高的吸收系數(shù)憎茂、直接帶隙（1.52V）[2]和無毒性使其成為薄膜和量子點(diǎn)敏化太陽能電池的理想候選者珍语。但是，似乎CIS太陽能電池的量子效率提升達(dá)到了瓶頸竖幔。為了不斷改進(jìn)下一代CIS電池并打破這一限制板乙，必須要清楚的理解制造工藝對(duì)太陽能電池性能的影響。 考慮到這一點(diǎn)，IRDEP（法國(guó)光伏能源研究院）的研究人員利用光致發(fā)光（PL）成像對(duì)多晶CuInS2太陽能電池進(jìn)行了表征募逞。高光譜顯微成像平臺(tái)（IMA Photon）可 ...

銅銦鎵硒（Cu(In,Ga)Se2 or CIGS）是薄膜太陽能電池的最佳候選者之一蛋铆。CIGS在長(zhǎng)期光照下除了穩(wěn)定性高外還具有較高的吸光度和直接帶隙。目前一些科研小組已經(jīng)將典型多晶CIGS設(shè)備量子效率超過20%放接，并且有較好的重復(fù)性刺啦。但是這種效率依舊低于Shockley-Queisser的理論計(jì)算值。這在一定程度上歸因于由于多晶性質(zhì)引起的太陽能電池的不均一性纠脾，這也使材料性能和整體性能的關(guān)系模糊玛瘸。為了量化形態(tài)對(duì)太陽能電池量子效率的影響，研究不同性質(zhì)在空間上的變化將變的至關(guān)重要苟蹈。 考慮到這一點(diǎn)糊渊，IRDEP（法國(guó)光伏能源研究院）的研究人員對(duì)CIGS微型太陽能電池（直徑為35μm）進(jìn)行了光致發(fā)光P ...

分布：△ 表面缺陷△ 晶界△ 相分離△ 無序化這種有效的方法可以深入表征鈣鈦礦微觀結(jié)構(gòu)，并將有助于理解這些材料中的降解現(xiàn)象慧脱，并使他們更接近于商業(yè)化渺绒。上海昊量光電設(shè)備有限公司作為Photon 公司在國(guó)內(nèi)的獨(dú)家代理，該產(chǎn)品主要特點(diǎn)如下：1）激發(fā)光源均勻分布整視野磷瘤，作用于樣品表面激光功率密度較低芒篷，同時(shí)避免了由于局部照明造成的載流子復(fù)合即使在較低功率下可獲得高信噪比圖像。2）整視野面成像采缚，采用光譜掃描针炉，成像速度快，150x150μm2成像范圍僅需8分鐘扳抽。3）可做絕對(duì)校準(zhǔn)篡帕，獲得光譜絕對(duì)強(qiáng)度，獲取器件光電特性如EQE,Voc等4）可選擇不同波長(zhǎng)的激光作為激發(fā)光源5）集熒光成像贸呢、電致發(fā)光镰烧、光致發(fā)光、透射率楞陷、 ...

例如：光纖端面缺陷怔鳖，機(jī)械配合精度，光纖幾何特性與波導(dǎo)特性差異等固蛾。二结执、光纖連接損耗的類型1.光纖類型不匹配導(dǎo)致的連接損耗。經(jīng)驗(yàn)與數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)表明艾凯，若兩端光纖的類型不匹配献幔，例如光從芯徑? 62.5 um的漸變多模光纖傳向芯徑為 ? 50 um 的漸變多模光纖，將會(huì)有2 dB的損耗趾诗，即損失約36%的光功率蜡感。若從芯徑? 62.5 um的漸變光纖傳向芯徑為? 9 um的單模光纖，將有約17 dB 損耗，即損失約98%的光功率郑兴。2.光纖幾何特性與波導(dǎo)差異導(dǎo)致的連接損耗犀斋。比較重要的特性差異因素有兩類，即纖芯直徑差異與數(shù)值孔徑差異情连。（1）纖芯直徑差異對(duì)連接損耗的影響闪水。若兩段光纖纖芯直徑不同，在光纖軸線精確對(duì)準(zhǔn)的條 ...

aN可以控制面缺陷的形成蒙具。圖2. MoS2疇左邊的光譜圖像和右邊的相關(guān)角度分析點(diǎn)圖在基底（a）SiO2，（b）Al2O3和（c）GaN上朽肥；左邊圖譜的出去譜圖顯示了疇方向的參考禁筏，右邊顯示了單個(gè)MoS2疇的相關(guān)方向相關(guān)文獻(xiàn)：Woanseo Park, Hyung Joon Kim, etc. Domain Aligned Growth of Molybdenum Disulfide on Various Substrates by Chemical Vapor Deposition[J]. Science of Advanced Materials, 2016, 8: 1683-1687.您可以通 ...

AFM測(cè)量表面缺陷，和使用SID4相位成像相機(jī)一次測(cè)量成型的結(jié)果對(duì)比衡招。SID4 與 光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x 對(duì)比使用SID4 HR定量測(cè)量篱昔，以及白光光學(xué)輪廓儀測(cè)量結(jié)果的對(duì)比。兩個(gè)報(bào)告中始腾，第一個(gè)側(cè)重于輪廓州刽，第二個(gè)側(cè)重于深度測(cè)量。測(cè)量結(jié)果Phasics是一家專門從事相位測(cè)量的法國(guó)公司浪箭。Phasics向其客戶提供全系列的產(chǎn)品穗椅，所有這些都是基于獨(dú)特的技術(shù)，即四波側(cè)向剪切干涉技術(shù)奶栖。Phasics公司的專長(zhǎng)在于對(duì)這項(xiàng)技術(shù)的深刻理解匹表，以及將其應(yīng)用于從激光和光學(xué)計(jì)量到生物樣品成像等多個(gè)領(lǐng)域的能力。對(duì)于每一個(gè)領(lǐng)域宣鄙，Phasics都提供了專門的硬件和軟件的解決方案袍镀。在生物學(xué)方面，Phasics提供了SID4Bio冻晤，這是一 ...

外部特征苇羡、表面缺陷及污斑情況，光譜數(shù)據(jù)用于分析物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)及成分鼻弧。 Specim高光譜相機(jī)采用線陣推掃的成像方式设江，通過相機(jī)和被拍攝物體之間有相對(duì)運(yùn)動(dòng)，獲取目標(biāo)區(qū)域的所有樣本的圖像數(shù)據(jù)和光譜信息數(shù)據(jù)温数。在地面端绣硝，大多是采用相機(jī)固定而讓被測(cè)物體移動(dòng)，如圖1撑刺；也可以采用被測(cè)物處于靜止固定狀態(tài)鹉胖，而相機(jī)通過電機(jī)控制運(yùn)動(dòng)，如圖2；若是結(jié)合無人機(jī)上的應(yīng)用甫菠，則把相機(jī)掛載在無人機(jī)上移動(dòng)而物體本身不動(dòng)挠铲。這里我們采用固定相機(jī)，而把物體放在位移臺(tái)上進(jìn)行拍攝（可以是傳送帶或者其他移動(dòng)裝置）寂诱。---圖1------圖2---3. 實(shí)驗(yàn)過程3.1 準(zhǔn)備樣品拂苹，未檢測(cè)的樣品如下。蒂頭痰洒、樹葉瓢棒、陳皮、創(chuàng)可貼丘喻、煙頭等脯宿。3.2 設(shè)備及 ...

粗糙程度、表面缺陷等等泉粉。偏振光分為完全偏振光和部分偏振光连霉，其中完全偏振光又分為圓偏振光和線偏振光。圖1中給出了無偏振的自然光與線偏振光的區(qū)別：燈泡發(fā)出的光具有任意的振動(dòng)方向嗡靡，因此是無偏振的跺撼，當(dāng)它穿透偏振濾光片時(shí)，只有沿著某一個(gè)特定振動(dòng)方向傳播的光可以通過讨彼，其他振動(dòng)方向的光要么被吸收歉井，要么被反射，此時(shí)透射光成為了完全的線偏振光点骑。當(dāng)意識(shí)到偏振光的重要性酣难，人們?yōu)榱讼駨?fù)眼昆蟲一樣也能夠看到偏振光，便研發(fā)了專門用于偏振成像的設(shè)備黑滴，我們稱之為偏振相機(jī)憨募。圖1.無偏振的自然光，經(jīng)過偏振片以后變?yōu)榫€偏振光1852年袁辈，斯托克斯(Stokes)提出用四個(gè)參量來描述光波的強(qiáng)度和偏振態(tài)菜谣。它們分別是：S0 、S1 晚缩、S2 ...

外部特征尾膊、表面缺陷及污斑情況，光譜數(shù)據(jù)用于分析物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)及成分荞彼。通過原理一般分為以下幾類高光譜成像儀：一光柵分光冈敛，通過光柵將光譜展開，然后線陣推掃成像鸣皂，比如Specim高光譜相機(jī)抓谴，覆蓋各種波長(zhǎng)和領(lǐng)域暮蹂；二可調(diào)諧濾波器分光，此原理相機(jī)不需要外置推掃或移動(dòng)裝置癌压，面陣成像仰泻，光譜掃描，比如Hinalea凝視型高光譜相機(jī)滩届；三芯片鍍膜型高光譜相機(jī)集侯，采用高靈敏ccd芯片及cmos芯片研制了一種新的高光譜成像技術(shù)，在探測(cè)器的像元上分別鍍不同波段的濾波膜實(shí)現(xiàn)高光譜成像帜消，比如XIMEA和IMEC棠枉。除此此外還有比如內(nèi)置推掃高光譜相機(jī)，芯片推掃高光譜相機(jī)等都屬于上述三大類當(dāng)中泡挺。Specim高光譜相機(jī)原理采用的是面陣探 ...

時(shí)檢測(cè)樣品表面缺陷和污染术健。2019 年日本東北大學(xué)采用三步相移橢偏成像技術(shù)，以橢偏測(cè)量術(shù)結(jié)合時(shí)間相移圖像處理單元進(jìn)行相移成像橢偏測(cè)量粘衬。與光度法相比，該技術(shù)通過四分之一波片（QWP）和旋轉(zhuǎn)線性偏振片（RLP）插入相移咳促，根據(jù)旋轉(zhuǎn)線性偏振片的方位角進(jìn)行連續(xù)采集稚新，在恒定旋轉(zhuǎn)速度下，選擇具有相等角度間隔的三個(gè)角度跪腹，在恒定時(shí)間內(nèi)得到三幅圖褂删，用于測(cè)量納米材料厚度，結(jié)構(gòu)如下圖所示冲茸。三步相移成像橢偏儀結(jié)構(gòu)示意圖其中屯阀，使用QWP和RLP插入相移。由于相移圖像是根據(jù)RLP的方位角連續(xù)采集的轴术，所以這種方法屬于時(shí)間相移技術(shù)难衰。由于具有公共光路，時(shí)間相移技術(shù)相比空間相移技術(shù)具有更高的精度逗栽。如果您對(duì)橢偏儀相關(guān)產(chǎn)品有興趣盖袭，請(qǐng)?jiān)L ...