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個因素可以明顯影響對Mura嚴(yán)重程度的判定:1缓窜、亮暗對比程度的差異2、亮暗差異的周期分布Mura檢測之傅里葉變換任意一個圖像均可以分解為不同頻率,強度禾锤,相位私股,方位的sin函數(shù)。Mura檢測之邊緣識別經(jīng)過傅里葉變換后恩掷,高頻部分可以用來識別圖像邊緣庇茫。Mura檢測之邊緣識別經(jīng)過對比增強后,原本很微弱不易識別的Mura可以明顯被識別螃成,當(dāng)然還有很多其它的方法旦签,例如比較Pixel與周圍pixel的亮度差異,計算亮度梯度寸宏,計算色差等方法宁炫。Demura算法為了更好的理解Demura補償算法,可以觀看以下視頻和圖片:可以看出Demura算法原理其實很簡單:只是把它認(rèn)為偏暗的區(qū)域變亮氮凝,或者偏亮的區(qū)域變暗羔巢,或者將有 ...
度分布產(chǎn)生明顯影響。當(dāng)將激光束成像于探測器面進行測試時,計算中應(yīng)包含成像系統(tǒng)的放大倍數(shù)罩阵。6.5 標(biāo)定應(yīng)在開始測量前對儀器進行標(biāo)定竿秆。可通過在一已知距離使用兩個正交放置的微米精度線性平移導(dǎo)軌移動位置敏感探測器進行標(biāo)定稿壁。7幽钢,測試程序7.1概述測量應(yīng)該在激光器生產(chǎn)商評估本款激光器所規(guī)定的工作條件下進行。在測試過程中傅是,對被測光束的取樣應(yīng)至少大于1000次匪燕。探測器的帶寬,包括與之相連的放大器及其他電子設(shè)備的帶寬,應(yīng)當(dāng)大于2次測量時間間隔的倒數(shù)的3倍喧笔。注:在選用相機類的探測器時帽驯,測試系統(tǒng)的帶寬受相機幀頻的限制。7.2光束位置穩(wěn)定性為了測試任意位置Z’處的光束位置穩(wěn)定性书闸,探測器應(yīng)放置于Z’處或者Z’的像可被成 ...
的發(fā)育沒有明顯影響尼变。在研究過程中,鈣離子成像技術(shù)被用于研究垂體細(xì)胞的成像浆劲,研究PTPRN和PTPRN2的缺失對垂體促性腺激素細(xì)胞(gonadotrophs GnRH)的鈣信號的影響嫌术。340/30nm和380/20 nm的激發(fā)帶通由Retra II光引擎(Lumencor,Beaverton,OR)提供,激發(fā)帶通通過510/84nm的濾光片進行了檢測梳侨。圖中展示了一些GnRH(100pM)誘導(dǎo)培養(yǎng)垂體細(xì)胞中的鈣信號數(shù)據(jù)蛉威。實驗使用源自WT和DKO雄性和雌性小鼠的細(xì)胞進行。參考文獻Sokanovic S J , Constantin S , Dams A L ,et al.Common and fem ...
板并曝光、用顯影液溶解未感光的光致抗蝕劑層、用腐蝕液溶解掉無光致抗蝕劑保護的二氧化硅層择示,以及去除已感光的光致抗蝕劑層束凑。在光刻系統(tǒng)中,激光的指向穩(wěn)定非常重要栅盲,會直接影響光刻的圖形準(zhǔn)確性和一致性汪诉。影響光束指向穩(wěn)定的主要因素有三個,分別是激光器本身的位置偏移谈秫,處于不同基座上的激光器和照明系統(tǒng)之間的振動差異性以及傳輸過程中的光學(xué)系統(tǒng)的擾動扒寄。這些擾動會對光刻的質(zhì)量造成嚴(yán)重影響。首先拟烫,激光指向的穩(wěn)定性對于確保圖形的精確刻蝕至關(guān)重要该编。在光刻過程中,激光束需要精確地照射到硅片上的特定區(qū)域硕淑,以實現(xiàn)圖形的準(zhǔn)確轉(zhuǎn)移课竣。如果激光指向不穩(wěn)定,會導(dǎo)致圖形位置偏移置媳、尺寸變化等問題于樟,嚴(yán)重影響產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。其次拇囊,激光指向的穩(wěn) ...
全息曝光和熱顯影技術(shù)迂曲,在玻璃內(nèi)部形成折射率的周期性調(diào)制,從而形成體布拉格光柵寂拆。 這種光柵zui初主要用于激光器波長鎖定奢米、線寬壓窄,超快激光脈沖展寬和壓縮纠永,超低波數(shù)拉曼測量等領(lǐng)域。隨著工藝技術(shù)的更新谒拴,體布拉格光柵(VBG)在窄帶濾波和快速光振幅調(diào)制方面得到更廣泛的應(yīng)用尝江,如下是產(chǎn)品的介紹:1笔链、超窄帶濾光片超窄濾光片由于其優(yōu)異的性能岳枷,在量子光學(xué)領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。針對于客戶實現(xiàn)超窄帶濾波及純化的應(yīng)用要求徙鱼,我們開發(fā)了10GHz苍日,25GHz惭聂,50GHz帶寬(FWHM, Full Width at Half Maximum)這3種規(guī)格的濾光片產(chǎn)品向客戶提供。超窄帶濾光片主要特點如下:常見波長:780nm, ...
后對薄膜進行顯影相恃,去除曝光的PMMA辜纲,從而在薄膜上留下圖案。這些圖案的特征尺寸可小至100納米。掃描電子顯微鏡本身的Max照相放大倍數(shù)為300,000倍耕腾,能夠看到小至3納米的特征见剩。振動挑戰(zhàn)掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡系統(tǒng)極易受到來自環(huán)境的振動影響。隨著分辨率不斷從微米級跨越到納米級扫俺,像這樣的顯微鏡工具對更精確的隔振需求變得愈發(fā)關(guān)鍵苍苞。當(dāng)測量幾埃或幾納米的位移時狼纬,必須為儀器建立一個絕對穩(wěn)定的表面羹呵。振動可以通過地板傳遞到原子力顯微鏡,不僅來自建筑物內(nèi)的泵和電機疗琉,還來自電梯冈欢、暖通空調(diào)(HVAC)系統(tǒng)、外部車輛交通的移動没炒,以及為顯微鏡提供支撐的輔助設(shè)備涛癌。垂直和水平方向的振動都會對所觀察圖像的質(zhì)量和分辨率 ...
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