解釋
中文：掃描探針顯微鏡剥啤；英文：scanning probe microscope / SIM的原理；中文：掃描探針顯微鏡不脯；英文：scanning probe microscope / SIM的定義府怯；中文：掃描探針顯微鏡；英文：scanning probe microscope / SIM是什么防楷。
基于掃描隧道顯微鏡的基本原理設(shè)計(jì)出的超近掃描高分辨率顯微鏡牺丙。分辨率可達(dá)納米級，并可將觀察的原子或分子形成三維圖像复局，是原子力顯微鏡（AFM）冲簿、激光力顯微鏡 （LFM）、磁力顯微鏡（MFM）等的統(tǒng)稱亿昏。
