如何利用磁場相機(jī)實(shí)現(xiàn)磁性微結(jié)構(gòu)分析召衔？

正文

如何利用磁場相機(jī)實(shí)現(xiàn)磁性微結(jié)構(gòu)分析？

工業(yè)設(shè)備的持續(xù)微型化過程引發(fā)了對高ji磁性微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)的需求按价，這些技術(shù)需結(jié)合高分辨率惭适、短測量時(shí)間和定量磁場數(shù)據(jù)。尤其是在磁性設(shè)備制造過程中進(jìn)行在線質(zhì)量控制時(shí)楼镐，這一點(diǎn)尤為重要癞志，例如工業(yè)定位應(yīng)用中的磁性標(biāo)尺。這些標(biāo)尺的表征非常具有挑戰(zhàn)性框产，因?yàn)槟壳暗拇艠O尺寸已經(jīng)達(dá)到了微米級別凄杯。這種小型結(jié)構(gòu)的磁場會(huì)在局部納米級范圍內(nèi)變化，且整個(gè)樣品中會(huì)出現(xiàn)所有三種磁場矢量分量茅信。因此盾舌，需要一種具有高空間分辨率的分析技術(shù)。此外蘸鲸，空間快速變化的磁場會(huì)隨著與樣品距離的增加迅速衰減。對于具有有限厚度的傳感器窿锉，這甚至可能導(dǎo)致垂直于傳感器方向的額外磁場變化酌摇，從而導(dǎo)致磁結(jié)構(gòu)尺寸依賴的場平均效應(yīng)。

 

一種常用的磁性納米和微結(jié)構(gòu)測量技術(shù)是掃描探針顯微鏡（SPM）嗡载，例如磁力顯微鏡（MFM）和掃描霍爾探針顯微鏡（SHPM）窑多。這兩種方法都具有納米級的空間分辨率，使用小型和薄型傳感器洼滚，能夠?qū)崿F(xiàn)低測量高度埂息。然而，MFM不是直接定量的，且由于掃描過程千康，這兩種方法都需要較長的測量時(shí)間享幽。另一種非常適合的技術(shù)是利用磁光法拉第效應(yīng)可視化納米結(jié)構(gòu)材料的磁場和電流。這種測量由于可以一次性測量二維平面拾弃，因此速度很快值桩。

MOIF技術(shù)已經(jīng)通過對薄硬磁樣品的定量分析和超導(dǎo)體中的渦旋動(dòng)力學(xué)研究得到了證明。現(xiàn)有的定量MOIF測量和校準(zhǔn)方法考慮到了非均勻的MOIF照明和MOIF厚度上的場平均效應(yīng)豪椿。然而奔坟，沒有研究綜合考慮所有這些效應(yīng)或更復(fù)雜的磁各向異性，如立方各向異性場搭盾。此外咳秉，也缺乏全面的系統(tǒng)不確定性分析，這對于校準(zhǔn)程序來說是不可或缺的鸯隅。

MATESY磁場相機(jī)基于一種位置分辨校準(zhǔn)的方法澜建，并結(jié)合對MOIF材料磁性參數(shù)的全面分析，校準(zhǔn)和模擬了一款商業(yè)MOIF設(shè)備（Matesy GmbH的cmos-MagView XL）滋迈。該設(shè)備使用了一個(gè)60 × 45 mm2的大MOIF霎奢，一個(gè)光學(xué)檢測路徑和一個(gè)1520 × 2048像素的CMOS相機(jī)進(jìn)行讀出。通過成像過程饼灿，一個(gè)28.4 μm × 28.4 μm的傳感器區(qū)域被映射到一個(gè)相機(jī)像素上幕侠，這定義了min分辨率。

校準(zhǔn)方法

 

1.宏觀校準(zhǔn)

校準(zhǔn)CMOS-MagView XL設(shè)備需要一個(gè)具有良好空間均勻性和高重現(xiàn)性的磁場晤硕。我們使用了極靴直徑為250 mm的電磁鐵，電磁鐵的磁場Bext由Bruker電源提供的穩(wěn)定電流設(shè)定庇忌，并通過水冷系統(tǒng)將溫度穩(wěn)定在23℃舞箍。通過霍爾磁力計(jì)測量的環(huán)境溫度穩(wěn)定在24℃至27℃之間。為了表征極靴間位置處的磁場Bext (x,y,z)皆疹，采用了一種掃描單元疏橄，該單元可以使用電動(dòng)平臺平行于極靴（x和y方向）掃描，并通過手動(dòng)平移臺垂直于極靴（z方向）移動(dòng)略就。通過旋轉(zhuǎn)電機(jī)的軸向掃描結(jié)果調(diào)整和控制探針與極靴的平行對齊捎迫。

2. CMOS-MagView XL校準(zhǔn)過程

校準(zhǔn)CMOS-MagView XL設(shè)備包括三個(gè)步驟：

(i) 首先，調(diào)查設(shè)備本身的特性表牢，如噪聲窄绒、重現(xiàn)性和溫度影響。

(ii) 建立測量設(shè)備強(qiáng)度與樣品垂直磁場之間的理論函數(shù)關(guān)系崔兴。

(iii) 在電磁鐵中不同磁場下測量設(shè)備響應(yīng)強(qiáng)度彰导，并將結(jié)果整合到校準(zhǔn)算法中蛔翅。

為了確定CMOS-MagView XL的噪聲特性，從每個(gè)像素的30次測量中確定強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)偏差位谋。建立基于物理機(jī)制的校準(zhǔn)算法時(shí)山析，考慮了不同的測量強(qiáng)度貢獻(xiàn)。通過擬合磁場與強(qiáng)度的關(guān)系倔幼，得到每個(gè)像素的校準(zhǔn)參數(shù)盖腿。

圖1：石川圖總結(jié)了垂直均勻磁場雜散場的CMOS-MagView XL校準(zhǔn)的不確定度貢獻(xiàn)。

3. 微觀校準(zhǔn)

在校準(zhǔn)微結(jié)構(gòu)時(shí)损同，均勻磁場的校準(zhǔn)是不夠的翩腐。MOIF設(shè)備的響應(yīng)取決于MOIF磁化的垂直分量Mz,MOIF。MOIF磁化方向不僅由樣品雜散場的垂直分量決定膏燃，還與MOIF材料的磁各向異性和傳感器厚度的平均效應(yīng)有關(guān)茂卦。利用DC-SQUID和FMR測量分析MOIF材料的磁各向異性參數(shù)，并進(jìn)行設(shè)備響應(yīng)的前向模擬组哩。

MOIF的強(qiáng)度I通過下列公式描述：

其中等龙，I是通過MOIF后光的強(qiáng)度，α是兩個(gè)偏振濾光片之間的角度伶贰，β是法拉第旋轉(zhuǎn)角蛛砰，由MOIF磁化的z分量決定。通過擬合不同磁場下的強(qiáng)度黍衙，建立像素級別的校準(zhǔn)參數(shù)：利用利用FMR確定的磁各向異性常數(shù)泥畅，模擬了cosθ對z方向外場的函數(shù)依賴關(guān)系，如下所述琅翻。模擬結(jié)果與三次方程cosθ (B) = a?B 3 + b?b進(jìn)行擬合位仁，zui終得到了CMOS-MagView XL對應(yīng)用均勻垂直磁場的強(qiáng)度響應(yīng)方程：

圖2：對位于傳感器膜中間的像素700×1000的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)I (B)的多項(xiàng)式擬合。

4. 磁性標(biāo)尺的測量和模擬

在這項(xiàng)研究中方椎，我們對一個(gè)商業(yè)磁性標(biāo)尺進(jìn)行了測量和模擬聂抢，以驗(yàn)證CMOS-MagView XL設(shè)備的校準(zhǔn)效果。首先棠众，我們在設(shè)備上測量了標(biāo)尺表面的磁場分布琳疏，然后通過二值化處理獲得了樣品的磁化圖像。接著闸拿，我們使用前向模擬方法計(jì)算了傳感器響應(yīng)轿亮，模擬結(jié)果與實(shí)際測量數(shù)據(jù)高度一致。zui后胸墙，通過與SHPM技術(shù)測量結(jié)果的比較，進(jìn)一步驗(yàn)證了校準(zhǔn)方法的準(zhǔn)確性和有效性按咒。此方法證明了其在快速定量表征磁性微結(jié)構(gòu)中的獨(dú)特優(yōu)勢迟隅。

圖3.在測量高度為50μm時(shí)但骨，使用MOIF與CMOS-MagView XL和可追蹤SHPM進(jìn)行相同磁尺度的測量結(jié)果比較。MOIF數(shù)據(jù)的不確定性為±2.5 mT智袭，小于數(shù)據(jù)點(diǎn)的大小奔缠。

對于小結(jié)構(gòu)的測量，由于空間快速衰減的雜散場吼野，CMOS-MagView XL測量的信號會(huì)比樣品側(cè)傳感器表面的場減弱校哎。通過傳遞函數(shù)修正MOIF傳感器厚度的影響：

其中，D為MOIF傳感器的厚度瞳步。修正后闷哆，傳感器厚度對測量結(jié)果的影響顯著減小。

 

了解更多MOIF詳情单起，請?jiān)L問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：

http://www.wjjzl.com/details-1793.html

更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電

關(guān)于昊量光電：

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商抱怔，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器嘀倒、光學(xué)測量設(shè)備屈留、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工测蘑、光通訊灌危、生物醫(yī)療、科學(xué)研究碳胳、國防勇蝙、量子光學(xué)、生物顯微固逗、物聯(lián)傳感浅蚪、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝烫罩，培訓(xùn)惜傲，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)贝攒，系統(tǒng)集成等服務(wù)盗誊。

您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.wjjzl.com了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532隘弊。