X-Scan X射線探測(cè)器 總部位于加利福尼亞州圣何塞，是具有高性能 cmos 線性二極管陣列 (LDA)碍现、CMOS 和 ccd 時(shí)間延遲積分 (TDI) 探測(cè)器和線掃描相機(jī)系統(tǒng)制造商幅疼，專為可見(jiàn)光和射線照相成像應(yīng)用。
TDI 是一種成熟且有效的掃描技術(shù)昼接，能夠在不影響掃描速度和檢查時(shí)間的情況下增加傳統(tǒng) LDA 系統(tǒng)的曝光時(shí)間爽篷。當(dāng)用于高能 X 射線、伽馬射線和中子射線成像應(yīng)用時(shí)慢睡，TDI 還具有特殊優(yōu)勢(shì)逐工。
X-Scan 獨(dú)特的設(shè)備結(jié)構(gòu)和屏蔽設(shè)計(jì)為用戶提供可靠的高速 X 射線成像，并在廣泛的實(shí)驗(yàn)室和在線生產(chǎn)和檢測(cè)環(huán)境中延長(zhǎng)使用壽命一睁，包括自動(dòng)化產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)钻弄、無(wú)損檢測(cè)（NDT ) 和計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)。其他應(yīng)用包括印刷電路板檢查者吁、焊接檢查窘俺、汽車車輪和輪胎檢查、食品/藥品檢查复凳、珍貴藝術(shù)品和貨幣檢查以及貨物檢查。
關(guān)鍵特征：
■ 單能量/雙能量可選 ■ X射線能量范圍：40-225kVp
■ 像元大杏恕：0.05对途，0.1，0.2髓棋，0.4实檀，0.8，1.5mm ■ 有效區(qū)域長(zhǎng)度：307-1638mm
■ 動(dòng)態(tài)范圍 >16,000 ■ GiGE接口
■ 基于Windows和Lunix二次開(kāi)發(fā)包
應(yīng)用：
安全按声、食物膳犹、管道、鑄件檢查签则、計(jì)算機(jī)斷層掃描须床、輪胎、電子產(chǎn)品渐裂、焊縫
參數(shù)指標(biāo)：
產(chǎn)品標(biāo)簽：X射線探測(cè)器,X射線線陣探測(cè)器,線陣X射線探測(cè)器,X射線線陣探測(cè)模塊,X射線掃描探測(cè)器
