XRF射線裝置利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。樣品被來自射線管的射線轟擊煎饼,產(chǎn)生熒光讹挎。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素,通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分吆玖。
能量分辨率筒溃、檢測效率和魯棒性是與檢測器相關(guān)的三個因素。 能量分辨率是分離具有小能量差的兩個光子的能力沾乘。 檢測效率是指 X 射線記錄的效率怜奖。我們提供的 XRF 系統(tǒng)使用硅漂移探測器的固態(tài)探測器技術(shù)。
當(dāng)樣品的熒光被收集翅阵,配套應(yīng)用軟件會將測量的X射線強度轉(zhuǎn)為厚度和成分歪玲。軟件包通常包含兩部分,波譜處理和定量分析掷匠。
臺式X射線熒光光譜儀 智能化設(shè)計滥崩,強大的分析:
幾秒內(nèi)完成金屬鍍層無損分析
成分分析可達25種元素
同時測量多達五個涂層,所有涂層都可以是合金
基礎(chǔ)參數(shù)法 - 半定量分析厚度與成分
輕松設(shè)置和操作 - 通過USB完成連接
簡潔的前控制面板
占地面積小讹语,節(jié)約空間
輕量化設(shè)計钙皮,便于移動
臺式X射線熒光光譜儀 直觀的用戶界面:
提供分析靈活性,同時減少用戶出錯機會
專業(yè)的 Archer 軟件
直觀的圖標引導(dǎo)用戶界面
強大的定性/無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
可定制快捷鍵顽决,方便操作
靈活的數(shù)據(jù)顯示和導(dǎo)出
強大的報告編輯生成器
臺式X射線熒光光譜儀 性能短条,強大,便利:
緊密耦合的幾何設(shè)計極大提高測量效率和精度
經(jīng)驗證的固態(tài)探測器可提供更高的分辨率才菠,穩(wěn)定性和靈敏度
儀器預(yù)熱時間短茸时,X射線管燈絲壽命長
可實現(xiàn)銀、錫的L線薄膜分析
多位置一次濾波器與多規(guī)格準直器可供選擇
靈活的焦距為復(fù)雜形狀或厚度較大的樣品提供測量便利
模塊化組件設(shè)計赋访,維護簡單
** 我們提供多種系列產(chǎn)品滿足用戶不同的測量需求可都,詳情可咨詢上海昊量光電設(shè)備有限公司。
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