美國(guó)Hinds公司的光學(xué)應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)廣泛用于科研測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量,玻璃面板/透鏡/晶體注塑成品等應(yīng)力分布檢測(cè),
150AT系列應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x提供極高測(cè)量速度,極高的測(cè)量分辨能力(<1 mm)茫舶，Hinds公司的光學(xué)應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品軟件直觀顯示待測(cè)樣品應(yīng)力情況械巡，便于操作和日常監(jiān)測(cè)。
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（二十三）- 全波段沉積過(guò)程的準(zhǔn)在位測(cè)試分析-不同沉積時(shí)間所對(duì)應(yīng)的
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（七）- 當(dāng)前在位監(jiān)測(cè)裝置設(shè)計(jì)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（二十四）- 全波段沉積過(guò)程的準(zhǔn)在位測(cè)試分析-不同時(shí)間所測(cè)試的光學(xué)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（十二）- 光學(xué)常數(shù)的提取與COMSOL Multiphysics
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（九）- 光學(xué)模型的建立與數(shù)據(jù)的提取
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（三十一）- 單波長(zhǎng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（二十五）- 全波段沉積過(guò)程的準(zhǔn)在位測(cè)試分析-介電常數(shù)
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（十七）- 系統(tǒng)誤差與醋酸鉛實(shí)驗(yàn)
