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橢偏儀與偏振相位(十一)-斯托克斯橢偏儀的偏振定標(biāo)測量實(shí)驗

發(fā)布時間:2023-11-28 16:42:51 瀏覽量:2338 作者:Alex

摘要

實(shí)驗中分別使用三種不同的方法:非線性zui小二乘擬合定標(biāo)方法算凿、四點(diǎn)定標(biāo)法和E-P定標(biāo)法在500~700nm波段分別定標(biāo)了KD*P型斯托克斯橢偏儀的儀器矩陣,來進(jìn)行分析犁功。

正文


橢偏儀與偏振相位(十一)-斯托克斯橢偏儀的偏振定標(biāo)測量實(shí)驗


1實(shí)驗裝置


根據(jù)上述原理建立的實(shí)驗裝置示意圖如圖1所示氓轰。將配有高精度穩(wěn)壓電源的溴鎢燈作為入射光源,出射光束經(jīng)過光纖耦合器轉(zhuǎn)化為準(zhǔn)直度小于0.3°浸卦、光斑小于5mm的準(zhǔn)直光束署鸡,并通過定標(biāo)單元被斯托克斯橢偏儀調(diào)制和接收。定標(biāo)單元中起偏器的消光比大于10000:1限嫌,波片1在中心波長532.4nm處為近1/4波片,由步進(jìn)電機(jī)控制兩元件旋轉(zhuǎn)怒医,轉(zhuǎn)動精度優(yōu)于2′炉抒,由計算機(jī)控制360°自由旋轉(zhuǎn)。


圖1 斯托克斯橢偏儀儀器矩陣測量裝置示意圖


實(shí)驗中稚叹,被測量的斯托克斯橢偏儀由兩個KD*P電光晶體KD*P1和KD*P2焰薄、波片2、檢偏器和光纖光譜儀組成扒袖。高壓調(diào)制器以倍頻的關(guān)系控制兩KD*P兩端電壓的快速反轉(zhuǎn)塞茅,從而實(shí)現(xiàn)入射光斯托克斯參數(shù)的完全調(diào)制。光纖光譜儀主要包含微型光柵和線陣ccd僚稿,可以同時得到多個波長處的光強(qiáng)值凡桥,可測光譜為300~1100nm。整個測量系統(tǒng)由Labview軟件編程實(shí)現(xiàn)自動化控制蚀同。

一般情況下缅刽,入射光的斯托克斯參數(shù)啊掏、波片的方位角誤調(diào)和相位延遲隨波長變化。由于這些參數(shù)的不確定性衰猛,單一波長處的儀器矩陣定標(biāo)可能無法比較和分析非線性zui小二乘擬合方法和傳統(tǒng)方法的差異迟蜜。為了克服這一困難,實(shí)驗中利用斯托克斯橢偏儀中光纖光譜儀的優(yōu)勢同時定標(biāo)500~700nm波段的儀器矩陣啡省。實(shí)驗中分別使用非線性zui小二乘擬合定標(biāo)方法、四點(diǎn)定標(biāo)法和E-P定標(biāo)法測量了KD*P型橢偏儀的儀器矩陣X卦睹,測量結(jié)果如圖2所示畦戒。


圖2 斯托克斯橢偏儀的儀器矩陣x定標(biāo)結(jié)果


通過分析發(fā)現(xiàn),在波長為500~600nm時结序,對于儀器矩陣的第4列障斋,3種定標(biāo)方法的結(jié)果相一致,這表明定標(biāo)單元中波片1的相位延遲的小角度誤差對四點(diǎn)定標(biāo)法和E-P定標(biāo)法的測量精度影響甚微徐鹤;而對于儀器矩陣的前三列垃环,四點(diǎn)定標(biāo)法和E-P定標(biāo)法的結(jié)果相一致,但與非線性zui小二乘擬合法有偏離返敬。其主要原因是兩種傳統(tǒng)方法中假設(shè)入射光是完全非偏振的遂庄,且認(rèn)為定標(biāo)單元中波片1的方位角不存在誤差。由非線性zui小二乘擬合法的參數(shù)擬合結(jié)果可知劲赠,入射光并非完全非偏振光且波片1的方位角存在誤差涛目;當(dāng)波長大于600nm后,四點(diǎn)定標(biāo)法和E-P定標(biāo)法的結(jié)果基本保持一致经磅,但與非線性zui小二乘擬合方法偏離較大泌绣,這是由于波片1的相位延遲隨著波長變大而愈加偏離90°(見圖4),四點(diǎn)定標(biāo)法和E-P定標(biāo)法中波片1為準(zhǔn)1/4波片的假設(shè)不再成立预厌,從而引起兩種方法的測量誤差阿迈。


圖3 波片1的相位延遲與波長的關(guān)系曲線


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相關(guān)文獻(xiàn):

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