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偏振 | 雙折射成像設備

成像型穆勒矩陣測量系統(tǒng)定量雙折射成像系統(tǒng)雙折射顯微成像系統(tǒng)(abrio替代產(chǎn)品)圓二色譜儀-高通量對映體過量測量(ee)儀(EKKO CD)高精度波片相位延遲測量系統(tǒng)深紫外斯托克斯偏振態(tài)測量儀 顯示全部
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成像型穆勒矩陣測量系統(tǒng)

  • 成像型穆勒矩陣測量系統(tǒng)
穆勒矩陣測量系統(tǒng) 高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)

所屬類別:光學檢測設備 ? 偏振 | 雙折射成像設備

所屬品牌:美國Hinds Instruments公司

產(chǎn)品負責人:

姓名:陸工(Cody)

電話:185 1625 1865(微信同號)

郵箱:zhou-lu@auniontech.com

穆勒矩陣測量系統(tǒng)

高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)


150XT 型穆勒矩陣橢偏儀Hinds公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng),在不到一秒內(nèi)即可實時測得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發(fā)的這款產(chǎn)品對于科研研究译打,工業(yè)測量耗拓,光學組件偏振特性測量,制造業(yè)生產(chǎn)/質(zhì)檢等領(lǐng)域都有著廣泛應用可能奏司。整套系統(tǒng)報包含完整軟件支持乔询,可以直接繪制出各種各樣光學、生物韵洋、化學樣品的線性相位延遲竿刁,圓偏相位延遲(或旋光),線性二向色性偏振衰減搪缨,圓二向色性偏振衰減圖樣食拜。


Hinds. Hinds Instruments 穆勒矩陣測量系統(tǒng),穆勒矩陣測量副编,Exicor负甸,Mueller Polarimeter ,150XT,穆勒橢偏儀


高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)通過使用光彈調(diào)制器和相應偏振測量技術(shù)痹届, 150XT 型穆勒矩陣橢偏儀在不到一秒內(nèi)即可實時測得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性呻待。由Hinds公司研發(fā)的這款高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)對于科研研究,工業(yè)測量短纵,光學組件偏振特性測量带污,制造業(yè)生產(chǎn)/質(zhì)檢等領(lǐng)域都有著廣泛應用可能僵控。這套穆勒矩陣測量系統(tǒng)報包含完整軟件支持香到,可以直接繪制出各種各樣光學、生物报破、化學樣品的線性相位延遲悠就,圓偏相位延遲(或旋光),線性二向色性偏振衰減充易,圓二向色性偏振衰減圖樣梗脾。



產(chǎn)品特點

? 前所未有的穆勒矩陣探測精度(全矩陣)

? 穆勒矩陣16組參數(shù)同步測量

? 樣品所有光學偏振特性同步測量

? 高重復精度

? 高速測量

? 系統(tǒng)光路固定(光路部分無移動組件,更穩(wěn)定)

? 對不同尺寸待測樣品同樣支持測量掃描

? 光彈偏振測量技術(shù)

? 簡易盹靴,人性化操作軟件界面

 

產(chǎn)品應用:

科研/工業(yè)研發(fā)

? 品控/質(zhì)檢測量

? 如下各種樣品的全偏振特性的測量:

1. 科研級復雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)光學組件

2. 各種雙折射/倍頻晶體

3. 復雜層級LCD

4. 同晶晶體

5. 各向異性晶體

6. 化學和生物光學各向異性材料

7. 由磁場/電場引起的各向異性樣品

規(guī)格參數(shù)

穆勒矩陣 (不同參數(shù)炸茧,靈敏度不同)



約3.533 mm厚度 C切割石英板狀樣品沿X-Y軸15°旋轉(zhuǎn)

0.5°步長)穆勒矩陣測量原始數(shù)據(jù)

 

偏振測量參數(shù)


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產(chǎn)品標簽:Hinds,Hinds Instruments,穆勒矩陣測量系統(tǒng),穆勒矩陣測量,Exicor,Mueller Polarimeter,150XT,Hinds,穆勒矩陣測量儀,偏振成像,穆勒橢偏儀,Exicor,Mueller Polarimeter,

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