【SID4-eSWIR簡介】
隨著光波波前探測技術的發(fā)展插佛，各種波前傳感器應運而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據(jù)幾何光學原理量窘，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等锨侯；另一類是基于干涉測量原理嫩海，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息识腿，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標準鏡;它們結構簡單渡讼，抗干擾能力強骂束，條紋穩(wěn)定。SID4-eSWIR波前傳感器將Phasics的四波剪切技術與T2SL探測器結合在一起成箫，提供覆蓋0.9至2.35 μm擴展短波紅外波段的高分辨率波前傳感器展箱。 SID4-eSWIR是一種創(chuàng)新的解決方案蹬昌，可用于檢測空間光通信混驰、測試儀表而晒、軍用夜視系統(tǒng)或監(jiān)控設備中使用的短波紅外光學系統(tǒng)。
【關于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司坟奥。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經(jīng)驗與獨特的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器明刷。
一婴栽、 SID4-eSWIR 波前傳感器主要特點
0.9至2.35 μm擴展波段全覆蓋
80 x 64高相位分辨率
瞬時相位測量，對振動不敏感
可接受非準直光入射辈末，光路搭建簡易快捷
二、SID4-eSWIR 波前傳感器產品功能
波前像差測量
基于四波剪切技術挤聘，Phasics 的波前傳感器同時提供具有無與倫比的高分辨率的相位和強度測量轰枝。 波前傳感器與其光束分析軟件相結合，可提供完整的激光診斷：波前像差组去、強度分布鞍陨、激光光束質量參數(shù)（M2从隆、束腰尺寸和位置等）诚撵。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學裝置的任何一點广料，無論光束是準直的還是發(fā)散的。SID4-NIR是一款高性價比的高分辨率波前傳感器幼驶，專門用于測量和對準1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。 |  |
三盅藻、SID4--eSWIR 波前傳感器應用領域
激光 |自適應光學及等離子體檢測 |光學計量及光學系統(tǒng)計量
四购桑、SID4-eSWIR 波前傳感器主要規(guī)格
| 波長范圍 | 0.9 - 2.35 μm |
| 靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 |
| 空間分辨率 | 120 μm |
| 取樣分辨率 | 80 x 64 |
| 相位分辨率 | < 6 nm RMS |
| 絕對精度 | < 40 nm RMS |
| 實時處理速度 | 10 fps (全分辨率下)* |
| 接口種類 | USB 2.0 |
五畅铭、更多參數(shù)選型
產品標簽：SID4-eSWIR,phasics,短波紅外波前傳感器,波前分析儀,MTF測量儀,干涉儀,激光干涉儀,球面干涉儀,激光平面干涉儀,干涉光刻,傳函儀,白光干涉儀,ZYGO,邁克爾遜干涉儀,便攜式干涉儀
