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膜厚測(cè)量?jī)x

膜厚測(cè)量?jī)x(厚度范圍1nm~10mm)Filmetrics F20單點(diǎn)薄膜透明膜半透明膜厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀多波長(zhǎng)橢偏儀/膜厚測(cè)量?jī)x半導(dǎo)體/薄膜無(wú)損檢測(cè)儀 顯示全部
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在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70

  • 在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70
產(chǎn)線生產(chǎn)光學(xué)無(wú)接觸薄膜厚度連續(xù)測(cè)量

所屬類別:光學(xué)檢測(cè)設(shè)備 ? 膜厚測(cè)量?jī)x

所屬品牌:美國(guó)Semiconsoft公司

產(chǎn)品負(fù)責(zé)人:

姓名:李工(Maple)

電話:130 2028 5269(微信同號(hào))

郵箱:qiang-li@auniontech.com

在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70


 


在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70是一種高性能厚度測(cè)量系統(tǒng)。在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測(cè)量囚霸,專為產(chǎn)線的連續(xù)測(cè)量而設(shè)計(jì)腰根。一些示例包括卷對(duì)卷生產(chǎn)中的卷材測(cè)量(薄膜和涂層的厚度)、建筑玻璃生產(chǎn)(反射率拓型、透射率和顏色坐標(biāo))额嘿、軋制金屬板(油或涂層厚度)等等。我們的厚度測(cè)量系統(tǒng)有效地測(cè)量薄膜和厚片劣挫,具有多層分辨力册养;透明、彩色和有色薄膜压固;有機(jī)或水性涂料和粘合劑球拦。在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70與其他聚合物(如 PR、PP 和離聚物)同時(shí)測(cè)量阻隔膜(如尼龍帐我、EVOH 或 PVD)的厚度坎炼。聚合物、玻璃拦键、金屬谣光、塑料、半導(dǎo)體和其他無(wú)孔材料上的涂層厚度矿咕。

 


在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70的優(yōu)勢(shì):

1.配置靈活:與PC或PLC集成

2.TCP-IP (1Gb) 快速可靠的通信

3.針對(duì)應(yīng)用需求定制的系統(tǒng)配置

4.不同型號(hào)取決于波長(zhǎng)抢肛、厚度范圍和測(cè)量速度

5.固件嵌入式數(shù)據(jù)分析選件(內(nèi)置 TFC)可實(shí)現(xiàn)超快速測(cè)量

6.在指定波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)量反射和/或透射光譜

7.可選參數(shù)測(cè)量



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