解釋
中文：原子力顯微鏡谦铃；英文：atomic force micro-scope / AFM的原理；中文：原子力顯微鏡榔昔；英文：atomic force micro-scope / AFM的定義驹闰；中文：原子力顯微鏡；英文：atomic force micro-scope / AFM是什么撒会。
利用一端固定而另一端裝有納米級(jí)針尖的彈性微懸臂與樣品表面的原子之間產(chǎn)生極其微弱的相互作用（如機(jī)械接觸力嘹朗、范德瓦耳斯力或靜電力等）引起的微懸臂梁的彎曲變形來檢測(cè)樣品表面形貌與物理特性的顯微鏡。屬于非光學(xué)顯微鏡诵肛。其成像模式分為接觸模式 （contact mode）屹培、非接觸模式（non-contact mode）和輕敲模式（tapping mode）等。
