PCBA上的涂層厚度測量在pcb制造過程中淆九,通常采用保形保護(hù)涂層來保護(hù)電路。根據(jù)規(guī)格要求涂不同的涂層毛俏。涂層范圍從簡單的水溶性防塵涂層(通常< 20μm)到專門的疏水涂層(<1 μm)炭庙。MProbe 40可以直接在PCBA上測量涂層厚度,以避免使用測試片的成本和不準(zhǔn)確性煌寇。測量可以在PCBA的不同區(qū)域進(jìn)行焕蹄,包括SMT元件表面,以驗(yàn)證涂層的均勻性和厚度阀溶。測量通常使用40 μm或20 μm的可見或可見-近紅外范圍(400-1000 nm)的測點(diǎn)進(jìn)行腻脏。實(shí)例1 測量PCB表面的水溶性涂層圖1 涂覆PCB的反射光譜圖2 PCB測量區(qū)圖3 測量結(jié)果:18.4μm涂層和0.6μm界面層圖4 PCB上 ...
粗糙表面上的膜厚測量由于光散射,粗糙表面上的薄膜厚度測量通常具有挑戰(zhàn)性银锻。事實(shí)上永品,表面粗糙度和厚度不均勻性是降低光譜反射系統(tǒng)厚度測量能力的兩個(gè)主要因素。然而击纬,這些特性通常存在于許多現(xiàn)實(shí)生活中鼎姐,例如金屬涂層。MProbeMSP提供了一種解決方案來克服這一限制,甚至可以測量z具挑戰(zhàn)性的應(yīng)用炕桨。解決方案的關(guān)鍵是表面粗糙度和厚度不均勻性都取決于測量區(qū)域饭尝。通過減小測量點(diǎn)尺寸,可以減少有效粗糙度和厚度不均勻性(在該點(diǎn)內(nèi)觀察到)献宫。一钥平、表面粗糙度表面粗糙度會導(dǎo)致光散射增加。這導(dǎo)致鏡面反射率降低和干擾減弱姊途。編織長度越短涉瘾,光散射越明顯。因此吭净,長可見光和近紅外(NIR)波長范圍(700-1700nm)更適合表面粗糙度的 ...
該波導(dǎo)由一個(gè)折射率高于周圍材料的通道組成肴甸。圖1:集成光波導(dǎo)光通過通道壁的全內(nèi)反射來引導(dǎo)寂殉。根據(jù)波長、襯底折射率原在、折射率差友扰、通道的寬度和深度,可以激發(fā)一個(gè)或多個(gè)橫向振蕩模式庶柿。單模操作是非常有價(jià)值的村怪,因?yàn)樗窃S多集成的光學(xué)元件的功能。集成光學(xué)元件特別是在光通信技術(shù)中通常配備光纖浮庐,線性電光效應(yīng)甚负,也稱為波克爾效應(yīng),是一種二階非線性效應(yīng)审残,包括在外加電場時(shí)光學(xué)材料折射率的變化梭域。折射率的變化量與電場強(qiáng)度、其方向和光的偏振率成正比搅轿。制造集成光調(diào)制器的shou選材料是鈮酸鋰(LiNb3)病涨。如果使用長度為L的電極將電場施加于電導(dǎo),則電極之間區(qū)域的折射率會發(fā)生變化璧坟,從而產(chǎn)生引導(dǎo)光的相移既穆,相移與所施加的電壓會呈線性關(guān)系 ...
致電光晶體的折射率變化。然后可以用精確的測量設(shè)備檢測到這種變化雀鹃。由于電光材料是一種介電材料幻工,它不會干擾或散射電磁場。此外黎茎,由于光纖電纜用于傳輸信號会钝,任何附加的布線都不會吸收噪音,因此,探頭可以在非常嘈雜的環(huán)境中使用迁酸,并且測量的信號僅與探頭位置的e場有關(guān)先鱼。zui后,電光響應(yīng)非臣轺蓿快焙畔,因此電光電場傳感器可以用來調(diào)制光信號,從而檢測太赫茲范圍內(nèi)的電信號串远。大尺寸回音壁模式環(huán)形諧振器調(diào)制器和波導(dǎo)馬赫-曾德爾調(diào)制器已被用于檢測射頻e場宏多。具有高品質(zhì)因數(shù)的光環(huán)諧振器可以提高傳感器的靈敏度叨恨,但測量帶寬(BW)將受限于微環(huán)諧振器的帶寬波導(dǎo)馬赫曾德爾調(diào)制器具有較高的帶寬俊卤,但體積大,空間分辨率低另外枚尼,塊狀晶體可用于測量 ...
場改變材料的折射率留搔,產(chǎn)生偏振和相位調(diào)制更胖,也稱為波克爾斯效應(yīng)。電光效應(yīng)在瞬間有效發(fā)生隔显,實(shí)現(xiàn)了高時(shí)間分辨率却妨。此外,全介電電磁傳感器產(chǎn)生的采樣電場畸變可以忽略不計(jì)括眠。利用飛秒(fs)近紅外(NIR)激光脈沖與自由傳播的單周期亞皮秒太赫茲輻射脈沖或瞬態(tài)電場時(shí)間同步彪标,探測太赫茲頻率電場誘導(dǎo)下電光晶體的折射率變化。靈敏度取決于光晶體的波克爾斯系數(shù)掷豺、在光晶體中傳播的太赫茲波和近紅外波的速度匹配以及它們的相互作用長度捞烟。鈮酸鋰(LN)是一種用于高頻電場傳感的通用材料,因?yàn)樗哂写蟮碾姽獠牧舷禂?shù)当船,對可見光和近紅外波(0.4-5μm)具有高透明度坷襟,對RF, mm和THz波(< 10 THz)具有低吸收。由絕緣體 ...
丙烯酸涂層厚度測量丙烯酸涂層厚度測量在許多行業(yè)中都很重要生年。例如婴程,在食品工業(yè)中, 丙烯酸涂層用于汽水罐內(nèi)部抱婉,以防止液體與金屬表面相互作用档叔。在制藥行業(yè),它用于小瓶和其他容器的內(nèi)/外蓋蒸绩。薄的丙烯酸基涂層經(jīng)常沉積在鋼或鋁板上衙四,以保護(hù)金屬免受腐蝕。MProbe 提供定制解決方案患亿,可直接測量產(chǎn)品上的丙烯酸涂層厚度:罐內(nèi)或外部传蹈、瓶蓋內(nèi)或大片材上押逼。MProbe Vis 系統(tǒng)可以在線和桌面上快速、準(zhǔn)確惦界、無損地測量涂層厚度挑格。如果是桌面系統(tǒng),則使用MProbe Vis 或MProbeHC沾歪。MProbeHC用于無法放置在樣品臺上的大型或彎曲金屬板漂彤。對于在線 應(yīng)用,MProbeVis 頭與掃描儀集成或多通道版本灾搏。每個(gè)M ...
同光波長下的折射率(R.I.)挫望。可以創(chuàng)建新的柯西材料并指定特定光刻膠的柯西系數(shù)如果光致抗蝕劑的柯西系數(shù)不可用–使用類似光致抗蝕劑的柯西系數(shù)作為起點(diǎn)狂窑。步驟 2:創(chuàng)建膠片堆棧Filmstack 代表物理樣本的模型- 它定義了基材和材料層媳板。如果3000nm 的光刻膠沉積在Si 晶圓上,薄膜疊層將是Si 襯底/3000nm PR泉哈。這里PR 將是步驟1 中定義的光刻膠材料蛉幸。步驟 3. 進(jìn)行測量測量實(shí)際上是一個(gè)兩步過程:數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析。它們由 TFCompanion 軟件透明地處理旨巷。在第1次測量期間巨缘,可能會也可能不會得到完美的結(jié)果——需要調(diào)整膠片疊層添忘。如果光刻膠的厚度足夠厚(> 1um)采呐,可以從 ...
材上的涂層,折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%搁骑。模型根據(jù)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合斧吐,厚度/n&k被準(zhǔn)確確定。為了進(jìn)行比較仲器,許多流行的可見光譜儀中使用的SonyILX和Toshiba1304探測器的DNR約為1000煤率。使用這些探測器之一進(jìn)行圖1中的測量會更加困難。另一方面乏冀,像S10420這樣的高質(zhì)量CCD探測器的DNR約為40K至50K蝶糯,并且可以準(zhǔn)確測量0.01%的反射率。實(shí)際上辆沦,需要對固定模式噪聲進(jìn)行非常精確的校準(zhǔn)才能測量低信號電平的信號昼捍。信噪比(SNR)SNR提供了信號質(zhì)量的衡量標(biāo)準(zhǔn)——它將信號的功率與噪聲的平均功率進(jìn)行比較。max信號達(dá)到max信噪比肢扯。噪聲源有很多妒茬,但大信號受到 ...
如何提高動(dòng)態(tài)范圍和信噪比之前提到了光譜儀規(guī)格中的信噪比,那么我們該如何改進(jìn)呢蔚晨?如何提高動(dòng)態(tài)范圍和信噪比乍钻?使用信號平均可以提高動(dòng)態(tài)范圍和信噪比。圖2顯示了10次平均值和不同像素?cái)?shù)的附加Boxcar平均值的效果。MProbe系統(tǒng)中的默認(rèn)測量配方有10個(gè)平均值和5像素Boxcar平均值银择。這提供了約35K的動(dòng)態(tài)范圍和約2500SNR多糠。圖2 平均對動(dòng)態(tài)范圍和信噪比的影響。偏移欢摄、暗信號和非線性CMOSS11639對于小信號(~范圍的30%)自然是線性的熬丧,而對于高信號則非常非線性。非線性校正對于反射率/透射率測量至關(guān)重要怀挠,因?yàn)樗鼈円蕾囉趨⒖紒泶_定絕對值析蝴。在Ariel光譜儀中,非線性會在固件中自動(dòng)校正绿淋。非線性 ...
應(yīng)用:測量金屬板上的聚酯涂層薄聚酯涂層用于保護(hù)用于高科技制造的鋼板免受腐蝕闷畸。涂層厚度和均勻性測試對于確保涂層的指定性能非常重要。該測試通常是離線完成的吞滞,以調(diào)整制造工藝佑菩。MProbeVis-MSP提供了一種快速、準(zhǔn)確且無損的方法來測量聚酯薄膜的厚度裁赠。鋼上透明聚酯的反射光譜(可見光范圍)鋼上白色聚酯的反射光譜(近紅外范圍)眾所周知殿漠,聚酯薄膜的厚度很難使用光學(xué)非破壞性方法進(jìn)行測量。主要原因是涂層的質(zhì)地和微觀不均勻性佩捞。如果是不透明的高散射涂層绞幌,NIR范圍(MProbeNIR-MSP波長900-1700nm)需要與小光斑一起使用。MProbeMSP系統(tǒng)允許在小點(diǎn)進(jìn)行本地化測量一忱。對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行高ji數(shù)據(jù)分 ...
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