動(dòng)態(tài)干涉儀動(dòng)態(tài)干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量設(shè)備绸栅，它能夠?qū)鈱W(xué)元件或系統(tǒng)的面形和波前進(jìn)行快速而精確的測量级野。這種儀器特別適用于那些需要在動(dòng)態(tài)環(huán)境下進(jìn)行測量的場景，例如在沒有光學(xué)氣浮平臺(tái)的車間里粹胯，或者在有嘈雜泵和空氣處理機(jī)的潔凈室內(nèi)蓖柔。動(dòng)態(tài)干涉儀的主要特點(diǎn)包括：1.高測量頻率：能夠以高達(dá)800Hz的頻率進(jìn)行測量辰企。2.長距離測量能力：zui大干涉測試距離可達(dá)100米。3.高重復(fù)測量精度：精度RMS（均方根）可以達(dá)到λ/1000或更高况鸣。4.對(duì)環(huán)境不敏感：能夠抑制環(huán)境振動(dòng)和湍流對(duì)測量精度的影響牢贸。5.適用于各種反射率的樣品：被測樣品的反射率范圍從1%到100%。便攜性：一些動(dòng)態(tài)干涉儀設(shè)計(jì)為便攜式镐捧，適合在各種環(huán) ...
菲索干涉儀菲索干涉儀（Fizeau interferometer）是一種光學(xué)測量設(shè)備潜索，通常用于測試光學(xué)表面的質(zhì)量，如平面度懂酱、波面像差和材料的均勻性等竹习。菲索干涉儀的原理基于等厚干涉，當(dāng)光線在兩個(gè)平行表面之間多次反射時(shí)列牺，會(huì)產(chǎn)生干涉條紋由驹，通過分析這些干涉條紋，可以測量出表面的微小不平整度昔园。菲索干涉儀的構(gòu)造通常包括以下幾個(gè)部分：1.光源：提供穩(wěn)定的單色光或準(zhǔn)單色光。2.準(zhǔn)直系統(tǒng)：將光源發(fā)出的光變成平行光束并炮。3.分束器：將光束分為參考光束和測試光束默刚。4.標(biāo)準(zhǔn)平面或球面：作為參考表面，與被測表面形成干涉逃魄。5.被測光學(xué)元件：待測量的光學(xué)表面荤西。6.成像系統(tǒng)：用于觀察和記錄干涉條紋。菲索干涉儀的應(yīng)用非常廣泛伍俘，它 ...
邁克爾遜干涉儀邁克爾遜干涉儀（Michelson interferometer）是一種精密光學(xué)儀器邪锌，由美國物理學(xué)家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜發(fā)明。它通過將一束入射光分成兩束癌瘾，然后讓這兩束光分別經(jīng)過不同的路徑后再重新結(jié)合觅丰，產(chǎn)生干涉條紋。這種干涉條紋可以用來測量光波的波長妨退、物體的微小位移妇萄、厚度以及折射率等物理量。工作原理：當(dāng)兩束光的頻率相同咬荷、振動(dòng)方向相同且相位差恒定時(shí)冠句，它們可以發(fā)生干涉。通過調(diào)節(jié)干涉臂的長度或改變介質(zhì)的折射率幸乒，可以形成不同的干涉圖樣1113懦底。干涉條紋實(shí)際上是等光程差的軌跡，因此罕扎，分析干涉產(chǎn)生的圖樣需要求出相干光的光程差位置分布的函數(shù)聚唐。邁克爾遜干涉儀的zhu名應(yīng)用之一是邁克爾遜-莫 ...
100nm丐重，干涉圖樣顯著退化。在這些條件下測量厚度變得具有挑戰(zhàn)性拱层。圖1 不同表面粗糙度的5um聚合物薄膜的反射光譜(700nm-1700nm)（模擬）弥臼。對(duì)于光散射，有一個(gè)特征根灯，即在較短波長下加速退化（強(qiáng)度和干涉）表面粗糙度會(huì)導(dǎo)致光散射增加径缅。這導(dǎo)致鏡面反射率降低和干擾減弱。編織長度越短烙肺，光散射越明顯纳猪。因此，長可見光和近紅外(NIR)波長范圍(700-1700nm)更適合表面粗糙度的應(yīng)用桃笙。表面粗糙度對(duì)反射光譜影響的模擬（圖1）表明氏堤，對(duì)于RMS>100nm，干涉圖樣顯著退化搏明。在這些條件下測量厚度變得具有挑戰(zhàn)性鼠锈。圖2 粗糙度為0.5umRMS的金屬表面（掩模版直徑為20um）。在20微米的尺度上 ...
NOM星著，基于干涉測量的檢測方法可以提供有效的背景抑购笆。利用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)在1733 cm?1的吸收波段，對(duì)PS-b-PMMA(苯乙烯-b-甲基丙烯酸甲酯)BCP (PS-b-PMMA)相對(duì)較大的自組裝圖案(~80 nm間距)的IR - s-SNOM圖像進(jìn)行了對(duì)比虚循。由遠(yuǎn)場散射光子從尖端周圍區(qū)域產(chǎn)生的壓倒性背景信號(hào)同欠。與遠(yuǎn)場散射相比，缺乏能夠可靠地增強(qiáng)近場拉曼散射的成像探針横缔，這阻礙了TERS的廣泛采用铺遂，盡管它很有希望。此外茎刚，聚合物共混物和BCP系統(tǒng)不適合共振拉曼增強(qiáng)襟锐，需要很長的信號(hào)集成時(shí)間。對(duì)于紅外sSNOM膛锭，基于干涉測量的檢測方法可以提供有效的背景抑捌斧。利用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)在 ...
0ps的延遲干涉儀（12.5-GHz自由光譜范圍）導(dǎo)入到非線性晶體中，以實(shí)現(xiàn)高速糾纏源泉沾。新開發(fā)的低抖動(dòng)差分超導(dǎo)納米線單光子探測器（SNSPDs）可以使time-bin量子比特解析為80ps寬的倉捞蚂。波長復(fù)用被用來實(shí)現(xiàn)多個(gè)高可見度的通道配對(duì)，這些配對(duì)共同加起來形成了一個(gè)高符合率跷究。每對(duì)配對(duì)可以被視為光子糾纏的獨(dú)立載體姓迅，因此整個(gè)系統(tǒng)通過使用波長選擇性交換適用于靈活網(wǎng)格架構(gòu)。每個(gè)通道的亮度和可見度被量化，作為泵浦功率丁存、收集效率以及符合率的函數(shù)肩杈。在低平均光子數(shù)（$$μ_L=5.6×10^{-5}±9.0×10^{-6}$$）時(shí)8通道系統(tǒng)可見度可達(dá)到平均99.3%，而在較高功率時(shí)（$$μ_H=5.0×10^ ...
ehnder干涉儀中扩然，形成調(diào)幅器。圖4：Mach-Zehnder振幅調(diào)制器施加電壓會(huì)導(dǎo)致分支之間的相對(duì)相位差聋伦，從而通過干擾導(dǎo)致器件輸出處的輸出功率的變化夫偶。因此，設(shè)備傳輸可以控制在min值和max值（P min到Pmax）之間觉增。從打開狀態(tài)到關(guān)閉狀態(tài)切換需要π的相對(duì)相位差兵拢。所需的電壓稱為調(diào)幅器的半波電壓Vπ。由于推拉操作逾礁，調(diào)幅器的半波電壓是具有相等電極長度的相位調(diào)制器的半波電壓的一半说铃。例如，在635 nm處可以預(yù)計(jì)紅色為1.5 V嘹履，在約1550 nm的通信波長范圍內(nèi)為5V腻扇。圖5：輸入/輸出指示燈圖6：振幅調(diào)制器特性曲線將射頻信號(hào)作為調(diào)制電壓應(yīng)用于電極，該電壓輸入被轉(zhuǎn)換為振幅信息砾嫉。這個(gè)振幅輸出取決于 ...
馬赫-曾德爾干涉儀耦合環(huán)結(jié)構(gòu)(MZICR)分別如圖1(A) -1 (c)所示幼苛，是三種不同的器件結(jié)構(gòu)，用于電光電場傳感器焰枢。所有的結(jié)構(gòu)都是通過將器件蝕刻到與石英襯底結(jié)合的TFLN中來制造的，該襯底與集成光子芯片通過光纖耦合舌剂，該芯片具有光柵耦合器济锄，可以將光纖中的光耦合到芯片上的亞微米鈮酸鋰光波導(dǎo)上。圖1所示霍转。(a)馬赫-曾德電磁場傳感器原理圖荐绝，(b)微環(huán)諧振器傳感器，(c)馬赫-曾德干涉儀耦合微環(huán)諧振器原理圖避消。對(duì)于Mach-Zehnder器件結(jié)構(gòu)低滩，耦合光使用1×2多模干涉(MMI)耦合器裝置在Mach-Zehnder干涉儀的兩臂之間進(jìn)行分割。Mach-Zehnder干涉儀的一個(gè)臂被極化以逆轉(zhuǎn)鈮酸鋰晶 ...
(MZI)干涉儀部分(圖1a)和一個(gè)輸入和兩個(gè)輸出光柵耦合器(圖1b)組成岩喷。在Mach-Zehnder干涉儀部分恕沫，使用1 × 2 MMI耦合器將光纖耦合光分成兩臂。一個(gè)MZI臂被極化以逆轉(zhuǎn)鈮酸鋰晶體的自發(fā)極化方向(圖1c)纱意。因此婶溯，對(duì)于一個(gè)MZI臂，在給定的電場下折射率增加，而在相同的電場下迄委，另一個(gè)臂的折射率會(huì)減少褐筛。因此，通過MZI的激光在一個(gè)臂中經(jīng)歷了+ φ的相移叙身，在另一個(gè)臂中經(jīng)歷了?φ的相移渔扎。太赫茲波從自由空間耦合到MZI 電光傳感器，激光探針脈沖利用垂直于傳感器芯片表面的保偏光纖耦合到電光傳感器芯片信轿。目前的器件由600nm鈮酸鋰在500um熔融二氧化硅襯底上制成晃痴，工作波長為1550nm。 ...
虏两。反射光譜中干涉條紋的幅度約為0.1%愧旦，并且非常清晰：薄膜疊層模型與測量數(shù)據(jù)相符，并且可以準(zhǔn)確確定厚度/n&k定罢。圖1 低光學(xué)對(duì)比度測量–基材上的涂層笤虫，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%。模型根據(jù)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合祖凫，厚度/n&k被準(zhǔn)確確定琼蚯。為了進(jìn)行比較，許多流行的可見光譜儀中使用的SonyILX和Toshiba1304探測器的DNR約為1000惠况。使用這些探測器之一進(jìn)行圖1中的測量會(huì)更加困難遭庶。另一方面，像S10420這樣的高質(zhì)量CCD探測器的DNR約為40K至50K稠屠，并且可以準(zhǔn)確測量0.01%的反射率峦睡。實(shí)際上，需要對(duì)固定模式噪聲進(jìn)行非常精確的校準(zhǔn)才能測量低信號(hào)電平的信號(hào) ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com
