望遠鏡物鏡的視場較小绍赛，例如大地測量儀器中的望遠鏡蔓纠，視場僅 1~2度；天文望遠鏡的視場則是以分計的；而一般低倍率的觀察用望遠鏡，視場也只在10 度以下损晤。但物鏡的焦距和相對孔徑相對較大，這是為保證分辨率和主觀亮度所必需的猴誊，可認(rèn)為是長焦距、小視場中等孔徑系統(tǒng)侮措。因此懈叹，望遠鏡物鏡只需對軸上點校正色差、球差和對近軸點校正彗差分扎，軸外像差可不予考慮澄成，其結(jié)構(gòu)相對比較簡單，一般有折射式望遠鏡物鏡畏吓、反射式望遠鏡物鏡墨状、折反射式望遠鏡物鏡，這篇文章主要介紹反射式與折反射式望遠鏡物鏡菲饼。一肾砂、反射式望遠鏡物鏡反射式物鏡主要用于天文望遠鏡中，因天文望遠鏡需要很大的口徑宏悦，而大口徑的折射物鏡無論在材料的熔制镐确、透鏡的加工和安裝上都很 ...
需承擔(dān)較大的視場，對軸外像差不利,難以達到預(yù)期的像質(zhì)饼煞。而負一倍雙組轉(zhuǎn)像系統(tǒng)一般采用二個相同且對稱設(shè)置的雙膠合鏡組源葫，并在二鏡組的中間位置放置光闌，如下圖3所示,使鏡筒長度增加了砖瞧。在共軛距取定后息堂，鏡組的焦距和間隔的選擇與像質(zhì)有關(guān)。間隔大對校正像散有利块促，但會導(dǎo)致軸外光束漸暈的增加荣堰。一般不應(yīng)使?jié)u暈大于 50%。圖3需要注意褂乍，如果只是簡單地加入透鏡轉(zhuǎn)像系統(tǒng)持隧，則軸外點成像光束在轉(zhuǎn)像鏡組上的入射高度將大為增加，以致視場較大時逃片，絕大部分光線不能通過轉(zhuǎn)像系統(tǒng)屡拨。為此，可在中間實像平面上加一適當(dāng)光焦度的透鏡褥实，使望遠鏡的光瞳與轉(zhuǎn)像系統(tǒng)的光疃共軛呀狼，使軸外光束折向轉(zhuǎn)像鏡組，如下圖4所示损离。這種加于中間像面上或其附近的透鏡稱 ...
哥艇、樣品損壞、視場僻澎、成本和易用性等標(biāo)準(zhǔn)對于廣泛的適用性至關(guān)重要貌踏，這推動了人們對先jin材料和應(yīng)用中磁性理解的未來發(fā)展十饥。電子和x射線顯微鏡可以提供低至幾納米的高空間分辨率，但耗時祖乳，需要昂貴的復(fù)雜儀器逗堵，仔細的樣品制備和高真空環(huán)境。磁力顯微鏡(MFM)通常用于表征磁性器件眷昆，但由于其侵入性磁尖蜒秤，固有的速度很慢，不適合成像脆弱的磁化狀態(tài)亚斋。另一方面作媚，磁光克爾效應(yīng)顯微鏡(MOKE)是一種非侵入性光學(xué)技術(shù)，在進一步了解自旋霍爾效應(yīng)和zui近在環(huán)境條件下形成的磁性斯基米子氣泡方面發(fā)揮了巨大作用帅刊。MOKE的主要限制是它適用于表現(xiàn)出強克爾響應(yīng)的材料纸泡。有源MOKE層已應(yīng)用于某些材料類型以誘導(dǎo)MOKE響應(yīng)，然而這種侵入性 ...
免了焦深小赖瞒、視場窄的問題弟灼，可實現(xiàn)高分辨率、寬視場測量冒黑，可用于對納米薄膜幾何參數(shù)的測量田绑。2018年韓國朝鮮大學(xué)提出用于表征多層膜結(jié)構(gòu)的大面積光譜成像橢偏儀，利用寬帶光源和成像光譜儀抡爹，光譜范圍可以達到400-800nm掩驱。準(zhǔn)直光束通過擴束器擴展，直徑達到30mm冬竟，通過低放大率成像透鏡得到旋轉(zhuǎn)補償器旋轉(zhuǎn)引起的偏振變化的光譜空間強度圖像欧穴，該圖像可以表征相對較大區(qū)域的薄膜厚度剖面，橫向分辨率也已經(jīng)達到4μm泵殴。至此涮帘，橢偏成像技術(shù)已經(jīng)實現(xiàn)大視場、寬光譜成像笑诅，可以應(yīng)用在更多方面调缨。根據(jù)測量的要求，橢偏成像技術(shù)可以用作定性技術(shù)吆你、準(zhǔn)定量技術(shù)或完全定量技術(shù)弦叶。但是在進行完全定量測量時，需要更精確的校準(zhǔn)妇多、校正和計算伤哺。201 ...
樣品包含整個視場的大面積區(qū)域內(nèi)的測量信息，實時觀測樣品的狀態(tài)，實現(xiàn)大視場寬光譜測量立莉，在納米薄膜绢彤、生物醫(yī)學(xué)等方面具有極大的應(yīng)用價值。如果您對橢偏儀相關(guān)產(chǎn)品有興趣蜓耻，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.wjjzl.com/three-level-56.html相關(guān)文獻：1薛利軍, 李自田, 李長樂, 等 . 光譜成像儀 CCD 焦平 面組件非均勻性校正技術(shù)研究[J]. 光子學(xué)報, 2006, 35(5): 693-696.2游海洋, 賈建虎, 陳劍科, 等 . 面陣 CCD 探測的全自 動橢圓偏振光譜系統(tǒng)研究[J]. 紅外與毫米波學(xué)報, 2003, 22(1): 45-5 ...
cm*2cm視場上獲得的PL圖杖虾。GRAND-EOS允許在更大的層面上捕獲光學(xué)圖像，以幫助改進制造過程圖4媒熊、(a)在790nm處提取的PL圖像，以及(b)從不同區(qū)域提取的PL光譜（參見相應(yīng)的靶標(biāo)）坟比。使用GRAND-EOS系統(tǒng)獲取的數(shù)據(jù)芦鳍。光致發(fā)光激發(fā)成像zui后，使用Photon的可調(diào)諧激光源作為激發(fā)葛账，用光致發(fā)光激發(fā)（PLE）和反射成像對相同的樣品進行研究柠衅，并使用光子等的IMA進行PL成像，使用532nm激光激發(fā)源（見圖5）籍琳。PLE光譜表明菲宴，PL發(fā)射的強度取決于激發(fā)光子的能量，在2.03eV激發(fā)時達到zui大強度趋急。獲取空間信息還能為了解樣品中是否存在缺陷提供寶貴的信息喝峦。研究還表明，將PLE與拉曼光 ...
而這類物鏡的視場較小呜达，不能滿足研究工作和顯微攝影的質(zhì)量要求谣蠢。二、復(fù)消色差物鏡這種物鏡是在消色差物鏡的基礎(chǔ)上查近，再對二級光譜和色球差作嚴(yán)格的校正而成眉踱，因此在小視場范圍內(nèi)有極高的成像質(zhì)量。為校正二級光譜霜威，部分透鏡需要采用特殊色散的光學(xué)材料谈喳，如螢石（CaF2）或特種光學(xué)玻璃。這些材料的折射率均很低戈泼，又要校正色球差婿禽，故復(fù)消色差物鏡的結(jié)構(gòu)要較消色差物鏡復(fù)雜得多。下圖5為一數(shù)值孔徑為1.25 的100倍復(fù)消色差物鏡大猛，其中陰影部分是螢石透鏡谈宛。由于這種物鏡倍率色差較大，需與相應(yīng)的補償目鏡配合使用胎署。圖5三吆录、平場消色差物鏡和平場復(fù)消色差物鏡由于復(fù)消色差物鏡仍然具有較大的像面彎曲，不能在平的接收面上給出整個視場的清晰 ...
主要應(yīng)用于寬視場時間分辨率成像設(shè)置琼牧。為了便于磁光對比度調(diào)整恢筝，基于激光的系統(tǒng)使用光纖照明哀卫。近年來，光纖耦合led已成為磁光學(xué)顯微鏡照明的標(biāo)準(zhǔn)撬槽。光譜輻照度類似或優(yōu)于高壓弧光燈此改，因為幾瓦的準(zhǔn)直輸出功率是可以實現(xiàn)與目前的LED照明。zui重要的是侄柔，led具有低噪音共啃。它們還提供脈沖操作模式，可以輕松適應(yīng)先jin組件選擇性準(zhǔn)靜態(tài)(“效果分離”部分)和時間分辨顯微鏡(“磁化動力學(xué)定量成像”部分)的成像方案暂题。與激光不同移剪，基于led的照明沒有斑點圖案的問題。與光纖高效率耦合薪者，大功率led現(xiàn)在是大多數(shù)磁光學(xué)顯微鏡實驗的照明選擇纵苛。圖1獲得正確調(diào)整的磁光效應(yīng)的關(guān)鍵是K?hler照明的精確設(shè)置，其中照明光源(例如光纖輸 ...
時間分辨磁光學(xué)顯微鏡成像的不同需求與相關(guān)技術(shù)對時間分辨磁光學(xué)顯微鏡的不同觀點出現(xiàn)了不同的成像選項言津，與所需的時間分辨率有關(guān)攻人，以解決不同頻率的磁化過程。相關(guān)要點有:圖1.(a)相機曝光時間為10μs悬槽，工作頻率為50 Hz時怀吻，F(xiàn)eSi電工鋼樣品的單次Kerr圖像。(b) 876 Hz時初婆，LED脈沖寬度為10μs的磁場調(diào)制磁電傳感器器件的頻閃圖像;(c) 0.516 MHz時烙博，激光脈沖寬度為20 ns的電場調(diào)制磁電傳感器的頻閃圖像。(d)在2 GHz磁場激勵下烟逊，激光脈沖寬度為7 ps的CoFeB/Ru/CoFeB反點陣列中靜磁自旋波模式的頻頻Kerr顯微鏡在激發(fā)頻率為幾到幾赫茲的情況下渣窜，低頻動態(tài)可以通 ...
可以實現(xiàn)整個視場的恒定放大率和恒定焦距。一個優(yōu)化的遠心克爾顯微鏡系統(tǒng)的原理草圖如圖1a所示宪躯。即使在觀測軸強烈傾斜的情況下乔宿，也能獲得零畸變磁圖像。得到的域圖像仍然被垂直于光入射平面的壓縮访雪，并且需要進行線性運算以獲得均衡的圖像映射详瑞。典型的應(yīng)用來自磁電復(fù)合懸臂式傳感器磁化反轉(zhuǎn)的克爾顯微鏡圖像如圖1b所示。如果您對磁學(xué)測量有興趣臣缀，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.wjjzl.com/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商坝橡，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器精置、光學(xué)測量設(shè)備计寇、光 ...
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