上足淆,以便調(diào)整光程差巢块,進(jìn)而獲得多組干涉圖樣。根據(jù)獲得的干涉圖組巧号,分析情況獲得三維相位輪廓族奢。調(diào)整在LCOS上加載電壓,獲得從0到255灰度值的圖案丹鸿,(a)圖為在LCOS上觀測的圖像越走。可得到對應(yīng)的干涉圖樣靠欢,(b)圖為LCOS的干涉圖廊敌。可看出單張干涉圖出現(xiàn)扭曲门怪,說明液晶的相位調(diào)制不是線性的骡澈。可在改變光程的步進(jìn)掃描中獲得一組干涉圖樣掷空,進(jìn)而計(jì)算三維相位輪廓肋殴,表征LCOS液晶受電壓變量和相位變量的關(guān)系。然后可以調(diào)整電壓變量的增量關(guān)系來獲得LCOS的灰度值和相位改變量的線性關(guān)系坦弟。采用白光干涉疼电,可獲得對比度高的干涉條紋,與窄帶激光干涉相比减拭,白光干涉可以定位零級條紋蔽豺,消除2p相位的誤差,更精確判斷液晶的相位改變量 ...
軟件可以分析光程差拧粪,并且實(shí)時(shí)轉(zhuǎn)化為物體表面的形貌修陡。硬件方面突照,Phasics相機(jī)體積小洒敏、結(jié)構(gòu)緊湊割卖,并且易于使用茅郎。事實(shí)上,Phasics的波前分析儀能夠與實(shí)驗(yàn)室常用的相機(jī)一樣易于集成拾因。整個(gè)相機(jī)可以輕松集成到生產(chǎn)線或者實(shí)驗(yàn)室中旺罢。表面測量結(jié)構(gòu)Phasic SID4相位相機(jī)利用的是一種四波橫向剪切技術(shù),將入射光分成剪切的4束绢记,然后再互相干涉形成干涉圖扁达,通過傅立葉逆變換可以得到入射光的相位譜和強(qiáng)度信息,這是一種消色差的技術(shù)蠢熄,因此白光和LED光源非常適合跪解。此外,可以使用任何顯微鏡進(jìn)行測量签孔,并且不依賴于偏振叉讥。如上圖光路所示,SID4相機(jī)位于被測物體的成像面進(jìn)行探測饥追,使用簡單图仓。SID4相位成像相機(jī)可以集成在商業(yè) ...
量波導(dǎo)產(chǎn)生的光程差(OPD)。知道波導(dǎo)的機(jī)械尺寸后但绕,就可以直接檢索折射率值透绩。OPD(nm)=(n波導(dǎo)-n稱底)*機(jī)械厚度(mm)光波導(dǎo)測量結(jié)構(gòu)(正交)上圖顯示,波導(dǎo)在正交配置中被切片和測量壁熄。測量示例Optical Path Difference (OPD) mapChanges of refractive index mapWaveguide design validation關(guān)于昊量光電:昊量光電 您的光電超市!上海昊量光電設(shè)備有限公司致力于引進(jìn)國外先進(jìn)性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品碳竟!與來自美國草丧、歐洲、日本等眾多知名光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系莹桅。代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿昌执,產(chǎn)品包 ...
,當(dāng)我們討論光程差誤差(OPD)或光線誤差時(shí)诈泼,在每個(gè)空間中懂拾,我們不清楚我們指的是哪個(gè)圖像點(diǎn)的誤差。在計(jì)算OPD時(shí)铐达,在每個(gè)空間中岖赋,參考球的中心點(diǎn)應(yīng)該是高斯圖像中的哪個(gè)點(diǎn)?由于通常在Z終圖像空間中我們沒有唯①的出瞳,如果系統(tǒng)光闌不在這個(gè)空間中瓮孙,那么當(dāng)我們寫出波像差函數(shù)時(shí)唐断,我們使用的是哪個(gè)坐標(biāo)?這些困難也許可以解釋為什么自塞德爾第①次描述他的五種塞德爾像差以來选脊,150多年過去了,但除了簡單的平行圓柱形變形連接系統(tǒng)以外脸甘,沒有人提供一套一般變形系統(tǒng)的完整的初級像差系數(shù)恳啥。相關(guān)文獻(xiàn):《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》(第三版)——李曉彤 岑兆豐您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.wjjzl.com了 ...
參考波面上的光程差。由于計(jì)算中心點(diǎn)亮度丹诀、傳遞函數(shù)等都需要用到波像差钝的,為計(jì)算方便一般在光瞳上是按2的冪打網(wǎng)格取樣,取樣越稀疏計(jì)算速度越快铆遭,但波面擬合的精度越低;取樣越密集計(jì)算速度越慢硝桩,但波面擬合的精度越高。常用的取樣密度有 16×16,32×32,64×64,128×128,256× 256 等疚脐。實(shí)際生產(chǎn)中對于高精度光學(xué)系統(tǒng)可以采用波面干涉法檢驗(yàn)波像差亿柑,有不同類型的干涉儀用于檢驗(yàn)光學(xué)系統(tǒng)的質(zhì)量,如雙光路的泰曼干涉儀棍弄,它是用一條光路產(chǎn)生標(biāo)淮波面望薄、另一條光路產(chǎn)生被測波面,從而得到兩個(gè)波面的干涉圖呼畸。共光路的斐索千涉儀也是常用的一種痕支,由于標(biāo)準(zhǔn)波面和被測波面在同一光路,可以得到穩(wěn)定性更好的干涉圖。剪切干涉 ...
想波面之間的光程差,用W表示蛮原。規(guī)定實(shí)際波面在理想波面之后時(shí)的波像差為負(fù),反之為正卧须。令理想波面的曲率半徑為與之間的夾角為顯然以A'為中心,過點(diǎn)作一圓弧顯然和之間是等光程的。則附近一點(diǎn)處的波像差相對于點(diǎn)處的波像差的改變量dW儒陨,可以相對于參考球面來確定花嘶,則有由上面兩個(gè)公式可得當(dāng)光學(xué)系統(tǒng)的孔徑不大時(shí),則有這就是波像差與球差之間的關(guān)系”哪可見椭员,如以為縱坐標(biāo)來畫出球差曲線,曲線所圍面積的一半即為波像差笛园。這樣,就很容易從球差曲線以圖形積分方法求得軸上點(diǎn)不同孔徑時(shí)的波像差隘击。對于物在無窮遠(yuǎn)的系統(tǒng),最好將u’表示為h/f’,相應(yīng)的波像差公式為或者以相對高度h/hm來表示如果光學(xué)系統(tǒng)僅有初級球差,那么,以為縱 ...
而已研铆。因此埋同,光程差實(shí)際上反映在入射波面與參考球面之間,這樣棵红,只要計(jì)算從物點(diǎn)發(fā)出的在半個(gè)入瞳面上按序分布的若千光線與參考球面交點(diǎn)之間的光程 就能求知各光線間的光程差了凶赁。鑒于參考球面與實(shí)際波面在出瞳中心相切或相交,該點(diǎn)(相當(dāng)于主光線)的波像差為零,因此各條光線的光程與主光線的光程之差即為各光線的波像差。對給定光學(xué)系統(tǒng)哟冬,光線由物面坐標(biāo)y和瞳面坐標(biāo)所確定楼熄。不同的光線波像差不同,故波像差一定是這些坐標(biāo)的函數(shù)。因坐標(biāo)為的光線與坐標(biāo)為的光線具有完全相同的光路,故必有據(jù)此浩峡,波像差表達(dá)式中可岂,只可能包含偶次元:再由于光束對子午平面對稱,坐標(biāo)的奇次項(xiàng)不可能在表達(dá)式中出現(xiàn);再考感到軸上點(diǎn)波像差只是入瞳半徑的函數(shù),因此 ...
軸光線之間的光程差或波像差翰灾。按此缕粹,同一孔徑的F光和C光各自的光程差應(yīng)是和,二者之差即為波色差,以表示纸淮,有式中第一項(xiàng)表示同一孔徑的二色光線間的光程差平斩。由于二色光的折射率差比折射率小得多,由此折射率差引起的二色光線的光路差別為一小量,而二光線的光程差更為二級小量咽块。若略去這二級小量,則可用二色光的中間色光的光路長D來代替和,由此得這就是軸上點(diǎn)波色差的表示式绘面。它表示二色波面于中心相切時(shí),在所計(jì)算孔徑處的偏離量侈沪。如果邊緣光線的 ,就表示二色波面在邊緣處相交揭璃,或在邊緣帶上二色光的波像差相等。消色差系統(tǒng)就要求這樣亭罪。應(yīng)用上述公式計(jì)算波色差時(shí)瘦馍,主要在于計(jì)算主色光在系統(tǒng)各光學(xué)零件中的光路長在計(jì)算機(jī)程序中,光路計(jì)算 ...
部分反射光的光程差应役,光程差又是由薄膜厚度情组,光學(xué)常數(shù),和光波長決定的箩祥。當(dāng)薄膜內(nèi)光程等于光波長的整數(shù)倍時(shí)院崇,兩組反射光相位相同,因而干涉相長袍祖。當(dāng)光重直人射到透明薄膜時(shí)就是這種情形底瓣,即2nd =iλ,這里d薄膜厚度盲泛,i是整數(shù)(系數(shù)2是因?yàn)楣獯┻^薄膜兩次)。相反键耕,薄膜內(nèi)光程是波長整數(shù)倍加半時(shí)寺滚,即 2nd=(i+1/2)λ時(shí),兩組反射光相位相反屈雄,因而干涉相消村视。反射率可以合成一個(gè)簡單公式:從公式看出,薄膜反射率隨波長的倒數(shù)周期性地變化酒奶,如下圖所示蚁孔。在相同的波長下奶赔,較厚的薄膜產(chǎn)生更多的振蕩,較薄的薄膜產(chǎn)生較少的振蕩杠氢,并且常常只有一個(gè)振蕩的一部分站刑。如果您對膜厚測量有興趣,請?jiān)L問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:https ...
的兩光束之間光程差鼻百,而分析泵浦脈沖之后的溫度場隨時(shí)間的響應(yīng)绞旅,同時(shí)泵浦光束的脈沖在一個(gè)或多個(gè)頻率上施加調(diào)制,以便于通過鎖相檢測同頻信號温艇,而且TDTR中鎖相放大器獲得信號的振幅因悲、相位或同相X與失相Y分量的比值都可以作為可觀測參數(shù)。FDTR和TDTR的相位數(shù)據(jù)測試曲線如圖2中所示勺爱。一般FDTR實(shí)驗(yàn)探測樣品在kHz到MHz范圍內(nèi)溫度頻率響應(yīng)晃琳,而TDTR則可以探測到GHz頻率的溫度響應(yīng)。圖2:左-頻域熱反射(FDTR)測得的頻率-相位數(shù)據(jù)示意圖琐鲁;右-時(shí)域熱反射(TDTR)測得的時(shí)間-相位數(shù)據(jù)示意圖卫旱;其中TDTR的優(yōu)點(diǎn)由超快的皮秒級時(shí)間分辨率,能處理載流子之間的非平衡動(dòng)力學(xué)绣否,提高了對熱界面導(dǎo)和薄膜熱性能的 ...
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