研究氟化鈣的雙折射摘要：本文介紹使用一種PEM光彈調制器历帚，其中PEM的速度為整個的雙折射映射打開了大門 ，通過在信號處理方案中增加一個額外的鎖相放大器杠娱，可以進一步提高測量速度挽牢。除了速度，PEM技術還提供了較高的雙折射測量精度摊求。業(yè)內得到共識的是禽拔，氟化鈣CaF2是一種實用的光學材料，用于157納米光刻步進和掃描透鏡室叉。制備高質量的低應力雙折射CaF2一直是一個挑戰(zhàn)睹栖。除了這種應力誘導雙折射，約翰·伯內特和他在NIST的同事們發(fā)現(xiàn)了CaF2沿<110>在157.6納米處的晶體軸徑為11.2納米/厘米這一消息對于光刻工業(yè)來說是一個不受歡迎的意外太惠，因為他們錯誤地認為屬于立方晶體群的CaF2是一種 ...
折射率引導型光子晶體光纖的結構類型與機理前言：光子晶體光纖（Photonic Crystal Fiber磨淌，PCF）的概念。與普通光纖是由包層與纖芯兩種介質組成向類比凿渊，光子晶體光纖通常是由單一介質構成的梁只，其包層周期性地規(guī)則對稱分布著具有波長量級的空氣孔陣列，包層外為涂覆層埃脏。因此搪锣，也可以稱其為“多孔光纖”（HoleyFiber）或“微結構光纖”（MicrostructureFiber）。光纖的中心彩掐，即被空氣孔陣列包層包圍的纖芯部位构舟，可以視為周期結構陣列中存在的“缺陷”。光子晶體光纖的微結構特性主要由三個參量決定堵幽，即空氣孔的直徑d狗超，相鄰兩孔之間的距離Δ，以及纖芯的直徑D朴下。光子晶體光纖的這種微結構特定 ...
鏡物方介質的折射率 n 和物方孔徑角正弦之乘積努咐，用符號 NA來表示，即(1) 顯微物鏡的分辨率δ顯微物鏡的分辨率是以它能夠分辨開兩點的較小距離δ來表示的殴胧，計算公式為：當被觀察體本身不發(fā)光渗稍，需要其他照明光源時，隨照明條件的不同团滥，計算公式將有所變化竿屹。根據(jù)阿貝的研究，對物體進行斜人射照明時灸姊，較小分辨率為：由以上公式可見拱燃，對于一定波長的單色光，在像差校正良好的情況下厨钻，顯微鏡的分辨率完全曲物鏡的數(shù)值孔徑?jīng)Q定扼雏。數(shù)值孔徑越大坚嗜，分辨率越高。當物方介質為空氣時诗充，物鏡較大的數(shù)值孔徑為 1苍蔬，一般只有 0.9 左右。而在物體和物鏡之間接以高折射率液體（如n=1.5~1.7的油）時蝴蜓，數(shù)值孔徑可達1.5~1.6碟绑。這種在物 ...
x邊緣射線的折射不變量，對應的x-RSOS茎匠。為了說明這一點格仲，我們將邊緣射線重寫為因此，我們看到量诵冒，在相關的x-RSOS中和曲面j上是x邊緣射線的折射不變量凯肋。類似地，x主射線在曲面j上的折射不變量為類似地汽馋，從如下y相關邊緣射線公式中我們知道曲面j上相關y-RSOS的折射不變量為通過應用上述四個推出來的方程侮东，在由之前推出的方程得到與兩個RSOS相關的拉格朗日不變量從之前我們對變形系統(tǒng)的近軸像性質，我們發(fā)現(xiàn)我們可以把近軸變形系統(tǒng)看作兩個相關聯(lián)的RSOS豹芯，因此我們已知的兩個RSOS的所有結果都可以直接應用于變形系統(tǒng)悄雅。我們還發(fā)現(xiàn)在一個變形系統(tǒng)中只有兩條獨立的近軸斜光線，但我們更傾向于使用在相關的x-RS ...
顯然铁蹈，材料的折射率n可以通過測量反射率R來決定宽闲。實際情況下，折射率n隨波長變化（就是說握牧，材料會發(fā)生色散）容诬。但是因為已經(jīng)知道很多波長的反射率，在這些波長下的折射率n就可以推算出來沿腰，如上面的公式所示放案。多層界面現(xiàn)在考慮涂在材料上的一層薄膜。這種情形下矫俺，薄膜的頂部和底部都會反射光〉г總反射光量是這兩部分反射光的疊加厘托。因為光的波動性，這兩部分反射光可能干涉相長（強度相加）或干涉相消（強度相減)稿湿，這取決于它們的相位關系铅匹。而相位關系取決于這兩部分反射光的光程差，光程差又是由薄膜厚度饺藤，光學常數(shù)包斑，和光波長決定的流礁。當薄膜內光程等于光波長的整數(shù)倍時，兩組反射光相位相同罗丰，因而干涉相長神帅。當光重直人射到透明薄膜時就是這種情 ...
膜厚測量原理（三）-通過光譜反射確定薄膜特性薄膜反射率的振幅和周期取決于薄膜厚度，光學常數(shù)萌抵，和界面粗糙度等其它特性找御。在多于一個界面的情況下，薄膜的光學特性不可能以解析解的形式來算出來绍填，也不可能在每個波長下描述n和k值霎桅。實際應用中，一定波長范圍內的n和k由數(shù)學模型根據(jù)幾個可調節(jié)參數(shù)模擬得出讨永。薄膜特性通過計算厚度實驗值及n與k模型參數(shù)的反射光譜來確定滔驶，不斷調整這些數(shù)據(jù)，直到計算反射率和測量反射率相匹配卿闹。n和K的建模有許多數(shù)學模型描述波長的函數(shù)n和k揭糕。為某種薄膜選擇模型時，在準確描述相關波長范圍n和k的情況下比原，變量越少越好插佛。一般來講，不同材料（如：電介質量窘，半導體雇寇，金屬和非金屬）的光學常數(shù)隨波長有很大 ...
膜厚測量原理（四）-膜厚測量的方法可變量的個數(shù)，光譜反射法的局限光譜反射法可以測量多種類型薄膜的厚度蚌铜，粗糙度和光學常數(shù)锨侯。但是，如果只有不到一個周期的反射率振蕩（如：薄膜太倍辍）囚痴，那么就不會產(chǎn)生足夠的信息來確定模型的可變量。這樣审葬，對于非常薄的薄膜深滚，可確定的薄膜特性的數(shù)量就會減少。如果試圖解決太多的變量涣觉，不可能找到唯①的解答痴荐；這種情況下待求變量的多種組合都可能使得反射率計算值與測量值匹配。取決于薄膜和測量的波長范圍官册，光譜反射法測量的單層薄膜的較小厚度為1納米到30納米生兆。如果還要測量光學常數(shù)，除非使用較少變量模型膝宁，可測較小厚度增加為10納米到200納米鸦难。如果測量超過一層的薄膜的光學特性根吁，較小厚度將進一 ...
鍵。傳統(tǒng)階躍折射率型單模光纖在其中心具有較高的折射率合蔽，包層材料具有較低的折射率击敌，以便通過全內反射的機理傳輸光波電磁場，其導模的有效折射率介于芯層中心折射率和包層折射率之間辈末∨Ω纾科學家們不斷地對光纖進行探索源织，經(jīng)過不懈努力發(fā)現(xiàn)了光纖中新的導光機理腊嗡，新型的空芯光纖不再局限于傳統(tǒng)的內反射原理衣盾，其光纖的纖芯折射率可以低于包層折射率，低折射率纖芯的光纖也可以傳輸光波電磁場科學家們發(fā)明并提出多種新型特種光纖组去，如微結構光纖鞍陨，多空光纖，反諧振光纖等从隆。這些新型的特種光纖不僅在長距離傳輸上有著良好的優(yōu)勢诚撵，并且在生物傳感、氣體傳感等應用上有著很好的性能键闺。圖1.光纖設計結構示意圖1999年寿烟，P.St.J.Russell在《 ...
表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測量辛燥。點衍射干涉儀不需要標準參考件筛武，可以用于高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器挎塌。1.1測試光路測試系統(tǒng)主要由D7點衍射干涉儀主機徘六，準直器，5mm口徑鋁鏡榴都，光學平臺等構成待锈。1.2 測試環(huán)境溫度：21℃±1℃；濕度：30%-70%1.3 絕對精度檢測（Accuracy）絕對精度的檢測采用波前均方根差（wavefront RMS differential 嘴高，WRMSD）的計算方法竿音，WRMSD是干涉儀穩(wěn)定性和測量有效性的嚴格標準。它定義為所有測量波前差異的均方差加上2X均方差的測量集拴驮，并定義為所有測量波前的平均值的綜合參考谍失。測試步驟：1）測試部分從0°開始 ...
加工和裝調；折射率的變化應能保證挑選到相應的玻璃等莹汤，稱為變量邊界條件。變量邊界條件除應考慮工藝條件和材料的可能性颠印，還要考慮到程序處理的方便和不致引起收斂過程的波動纲岭。對于各類變量可作如下的限制：曲率半徑一般不需給以限制(因為自動設計中為了確保像差的良好校正抹竹，并不會導致半徑的極度變小）止潮；透鏡的厚度應嚴格限制下限(可令d≥0.1D,D為透鏡口徑）,為了防止透鏡過厚窃判，對上限也可適當提出限制；透鏡的空氣間隔只需限制下限喇闸；透鏡的折射率可限制在 1.48～1.85 范圍袄琳，并將其分段，以便能與色散或阿貝數(shù)相適應燃乍。第二類邊界條件是以結構參數(shù)為自變量的函數(shù)的邊界條件唆樊，是對結構參數(shù)函數(shù)的限制，包括正透鏡的邊緣厚度刻蟹、 ...
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