中文：延遲量售貌；英文：delay

- 波片相位延遲量測量誤差分析影響波片相位延遲量測量準確度的因素主要有：標準1／4波片的偏差及待測波片快軸與入射面夾角θ的誤差等，下面從公式(4)出發(fā)名秀，討論兩者誤差對波片測量延遲量的影響：（一）當標準1／4波片和待測1／4波片的相位延遲量都是理想的90°時励负，得到δ與θ的關(guān)系如圖1所示，θ的變化范圍是-4°至＋4°匕得〖逃埽可見，當標準1／4波片和待測1／4波片在理想情況下汁掠，待測1／4波片的方位角θ不影響其相位延遲量測量略吨。圖1當標準1／4波片理想時待測波片δ與其方位的角θ的關(guān)系(二）實際上，由于波片受溫度调塌，及制作工藝的影響晋南，其相位延遲量不可能是理想的90°。若待測1／4波片的相位延遲量為88.8°羔砾，標準 ...

即0對應(yīng)相位延遲量為零负间，1對應(yīng)相位延遲量為2pi。光柵制作單個光斑方法1：易于控制X和Y方向的周期數(shù)量 %% 光柵 % X和Y方向的斜面姜凄，取值范圍0-1 [x, y]= meshgrid(linspace(0, 1, 512)); % 光柵的數(shù)量 M = 3; N = 4; % 疊加光柵后政溃，X方向周期為3，Y方向周期為4 z = M*x+N*y; z = mod(z, 1); imshow(z);方法2：對光柵偏轉(zhuǎn)的角度大小更加方便 %% 直接輸入偏轉(zhuǎn)角度态秧，計算光柵 theta = pi/6; % X方向周期為cos(tehta) % Y方向周期為sin(theta) z = x/cos(th ...

調(diào)制器的相位延遲量與所加電壓通常不是線性的關(guān)系董虱，因此需要一個查找表（look-up table）糾正他們的線性關(guān)系。這里采用在液晶空間光調(diào)制器上加載棋盤格的方式來制作LUT文件。棋盤格如下愤诱，白色代表2pi的相位云头，灰度從0-100%之間變化，表示從0-2pi之間改變淫半。30%灰度的棋盤格首先加載一個linear.lut文件溃槐，linear.lut文件分為兩列，左邊一列代表圖片灰度值科吭，右邊一列代表電壓值昏滴。若空間光調(diào)制器都是16bit的深度，那么左右兩列都是從0-65535之間變化這個lut文件是為了能夠得到对人，所有電壓下對應(yīng)的相位相應(yīng)谣殊。觀察透鏡焦面上，棋盤格對應(yīng)光斑牺弄，主要是看0級光和1極光姻几。理想情況下， ...

s效應(yīng)势告，相位延遲量與電場也是線性關(guān)系?=k×VV是外部電壓鲜棠，k是相位延遲量與電壓之間的系數(shù)強度調(diào)制入射光需要與快軸和慢軸夾角為45°，下面是假設(shè)入射光為45度培慌，快軸為90°下圖是對應(yīng)不同相位差的情況下，出射光的偏振狀態(tài)柑爸。初始相位差為0吵护，間隔為π/6。如果在上述光路下表鳍，在-45°方向添加一個偏振片馅而，那么則光強為將kV的形式修改一下后，可以得到V_(π/2)就是半波電壓譬圣。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息瓮恭，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

1和2的相位延遲量厘熟；R(ε)為各光學(xué)元件的旋轉(zhuǎn)矩陣屯蹦，其中ε可以表示入射面與雙旋轉(zhuǎn)補償器的快軸方向的夾角 C1、C2绳姨，也可以表示入射面和起偏器登澜、檢偏器的透光軸方向的夾角P和A；Sin為入射光束的Stokes向量飘庄，為[1000]T脑蠕。將上式展開，可得對應(yīng)像素采集的光強信號表達式，利用Hadamard分析谴仙，可以從諧波系數(shù)中求出待測樣品對應(yīng)像素處的Muller矩陣元素迂求。2018年，韓國漢陽大學(xué)應(yīng)用物理系研究出一種雙反射橢偏成像系統(tǒng)晃跺，對兩個樣品的偏振態(tài)變化進行比較揩局，提供兩個樣品差異的非零圖像。該系統(tǒng)以一種樣品為基準哼审，另一個為測試樣品谐腰，去除了調(diào)零過程，圖像獲取速率可以達到攝像機的zui高幀率涩盾，提高了測量速度 ...

對準或者測量延遲量和方位角十气。塞納蒙(Senarmont)法是一種傳統(tǒng)的應(yīng)力分布測量方法。其優(yōu)點是經(jīng)濟春霍，容易調(diào)準砸西，即使使用低質(zhì)量的波片也有很高的精度。下面是其光路圖：2.2塞納蒙法測量偏振器件之間的關(guān)系由穆勒矩陣和斯托克斯矢量給出址儒，類似上面芹枷。zui終分析光強，即可得到延遲大小莲趣。當然鸳慈，關(guān)于雙折射的應(yīng)用還有很多，比如圓偏光器喧伞，光彈調(diào)制器法走芋，光學(xué)外差法，用相移法的二維雙折射測量等等潘鲫，此次不再介紹翁逞，可根據(jù)實際工程需求，進行了解溉仑。如果您對雙折射測量有興趣挖函，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.wjjzl.com/three-level-54.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直 ...

量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術(shù),2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學(xué)學(xué)報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學(xué)學(xué)報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...

量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術(shù),2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學(xué)學(xué)報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學(xué)學(xué)報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...

量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術(shù),2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學(xué)學(xué)報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學(xué)學(xué)報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...

得到180°延遲量；(b)Glan棱鏡應(yīng)用于擴展光束光路中會導(dǎo)致消光比的損失浊竟；(c)Glan棱鏡的制造缺陷通常會帶來3～6分的光束偏離怨喘，若擴展光束光強分布不均勻(例如燈絲像分布)，那么在旋轉(zhuǎn)檢偏器的時候會出現(xiàn)嚴重的問題振定。由之前測量結(jié)果可見哲思，此類誤差對旋轉(zhuǎn)檢偏器的方法測量會造成巨大的影響。綜合上述分析可見吩案，實驗條件下各參量測量誤差及帶寬影響不是影響測量精度的主要因素棚赔，測量誤差主要來源于Glan棱鏡的光束偏離及其應(yīng)用于擴展光束中的消光比損失等造成的影響。由此可見，光強法對光路及光學(xué)元件等要求較高靠益，在本文所采用實驗系統(tǒng)中難以獲得較高的測量精度丧肴。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：https: ...