自1998年以來垦细，NT-MDT已成功地將AFM與光學(xué)顯微鏡和光譜技術(shù)相集成择镇。支持包括hybrid modeTM在內(nèi)的30多種基本和AFM模式，可提供有關(guān)樣品表面物理性質(zhì)的廣泛信息括改。 AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成提供了有關(guān)樣品的更多信息腻豌。
完全相同的樣品區(qū)域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關(guān)樣品物理性質(zhì)（AFM）和化學(xué)成分（Raman）的補充信息。
NTEGRA Spectra II借助尖端增強拉曼散射（TERS），可以進(jìn)行納米級分辨率的光譜學(xué)/顯微術(shù)吝梅。特制的AFM探針（納米天線）可用于TERS虱疏，以增強和定位尖端附近納米級區(qū)域的光。
這種納米天線充當(dāng)光的“納米源”苏携，從而提供了光學(xué)成像的可能性做瞪，其分辨率小于衍射極限（max?10 nm）。掃描近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）是獲得旋光性樣品的光學(xué)和光譜圖像的另一種方法右冻，其分辨率受探針孔徑大凶芭睢（?100 nm）限制。
NT-MDT 原子力顯微鏡系統(tǒng)光路圖
所有可能的激發(fā)/檢測和TERS的解決方案
應(yīng)用
CdS納米線通過導(dǎo)電聚合物納米線與金屬電極連接纱扭。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結(jié)構(gòu)上牍帚。 由于AFM探針的形狀，激光可以直接定位在尖端頂點上乳蛾。
高分辨率AFM圖像可提供有關(guān)樣品形貌的信息履羞。 從同一區(qū)域獲取的拉曼圖和發(fā)光圖顯示出納米線化學(xué)成分的差異。
光學(xué)圖片
原子力顯微鏡掃描圖 拉曼掃描圖 熒光掃描圖 拉曼譜
產(chǎn)品標(biāo)簽：原子力顯微鏡,TERS,二維材料,半導(dǎo)體,晶圓,納米材料,納米器件,NT,MDT,原子力顯微鏡,針尖增強拉曼散射,原位AFM,TERS,AFM+Raman,NT,MDT
