波前表征了光線是如何傳播的透敌,在光學(xué)中有著非常重要的作用,而如何準(zhǔn)確迅速的測得波前就非常的重要了踢械。波前測量技術(shù)從1900年的哈特曼小孔掩膜測量法酗电,到1970年的夏克-哈特曼微透鏡陣列掩膜法。2000年内列,Phasics改進(jìn)了夏克-哈特曼技術(shù)撵术,重新設(shè)計(jì)開發(fā)了帶有自己的掩膜,得到了Phasics 4波橫向剪切波前探測器话瞧。
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4波橫向剪切干涉波前傳感器及SID4
一嫩与、波前探測技術(shù)
波前表征了光線是如何傳播的,在光學(xué)中有著非常重要的作用交排,而如何準(zhǔn)確迅速的測得波前就非常的重要了
波前測量技術(shù)從1900年的哈特曼小孔掩膜測量法划滋,到1970年的夏克-哈特曼微透鏡陣列掩膜法。2000年埃篓,Phasics改進(jìn)了夏克-哈特曼技術(shù)处坪,重新設(shè)計(jì)開發(fā)了帶有自己的掩膜,得到了Phasics 4波橫向剪切波前探測器。
二稻薇、技術(shù)原理
待測光進(jìn)入到傳感器,經(jīng)過衍射光柵分光胶征,使±1級共4束衍射光通過塞椎,用ccd記錄干涉條紋。
采集到的干涉條紋睛低,經(jīng)過傅里葉變換案狠,分別提取到強(qiáng)度圖和XY方向的相位梯度,并合成為相位圖钱雷。這樣通過一次采集骂铁,就得到了該位置處的強(qiáng)度和相位信息,同時也能推算出其他位置處的強(qiáng)度和相位信息罩抗。
一次拍攝拉庵,能同時解出強(qiáng)度和相位。
三套蒂、優(yōu)勢
1钞支、相比于夏克-哈特曼傳感器,采樣點(diǎn)更多操刀,具有更高的分辨率烁挟。
2、靈活易用骨坑,通過簡單的設(shè)置就能進(jìn)行測量撼嗓。
3、消色差欢唾,一個傳感器就可用于400-1100波長范圍內(nèi)的測量且警。
四、探測波長
包括從紫外(150nm)到遠(yuǎn)紅外(8.14um)一系列波長范圍
五礁遣、應(yīng)用案例
激光測試解決方案
M2振湾、斯特列爾比、Zernike亡脸、束腰位置和尺寸押搪、 PSF;
可測試光束質(zhì)量浅碾;
可搭配任意變形鏡做自適應(yīng)光學(xué)大州;
可測量氣體和等離子體密度。
a.光束質(zhì)量
b.自適應(yīng)光學(xué)
c.氣體和等離子體測試
氣體和等離子體測試方案垂谢。探測光束通過等離子體厦画,并經(jīng)歷了相移,由于局部折射率變化;SID4 HR直接測量光束的相位根暑,并將其轉(zhuǎn)換成密度信息力试。
得益于Phasics的技術(shù),改善了波前測量方法排嫌,并適用于許多應(yīng)用畸裳。
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