免費(fèi)測(cè)試撵溃!AUT-Nanobase拉曼光譜成像/光電流成像/熒光壽命成像樣品測(cè)試服務(wù)
限時(shí)免費(fèi)!拉曼光譜成像/光電流成像/熒光壽命成像樣測(cè)試服務(wù)
測(cè)試內(nèi)容 單點(diǎn)拉曼 單點(diǎn)熒光 拉曼mapping 熒光mapping 光電流mapping 熒光壽命mapping
光電流成像
熒光成像和熒光壽命成像
添加產(chǎn)品負(fù)責(zé)人微信(二維碼如下)锥累,展示點(diǎn)贊截圖征懈,即獲免費(fèi)測(cè)試資格。
北方區(qū)聯(lián)系人 南方區(qū)聯(lián)系人 江浙滬聯(lián)系人
可供測(cè)試詳表
測(cè)試項(xiàng)目 | 測(cè)試內(nèi)容 | 成像范圍 | 激發(fā)波長(zhǎng) |
拉曼測(cè)試 | 拉曼單點(diǎn)揩悄、mapping成像 | 成像范圍:200um×200um(40×物鏡下),空間分辨率:<0.02um, | 激發(fā)波長(zhǎng):532nm/785nm |
PL測(cè)試 | PL單點(diǎn)卖哎、mapping成像 | 激發(fā)波長(zhǎng):405nm/532nm | |
tcspc測(cè)試 | 熒光壽命單點(diǎn)曲線、熒光壽命mapping成像 | 激發(fā)波長(zhǎng):405nm | |
光電流測(cè)試 | I-V曲線、I-t曲線亏娜、光電流mapping成像 | 激發(fā)波長(zhǎng):405nm,532nm,785nm |
本次活動(dòng)解釋權(quán)歸昊量光電所有
產(chǎn)品標(biāo)簽:共聚焦顯微拉曼光譜儀,SERS,二硫化鉬,大學(xué)分析測(cè)試中心,拉曼服務(wù),石墨烯,物理材料拉曼分析,高分子材料,激光共焦顯微拉曼光譜儀